[發明專利]鋰離子電池的負極材料、鋰離子電池、鋰離子電池的負極或負極材料的制造方法及制造裝置在審
| 申請號: | 202010436052.9 | 申請日: | 2014-06-11 |
| 公開(公告)號: | CN111755689A | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發明(設計)人: | 小林光;肥后徹;金谷彌生 | 申請(專利權)人: | 日新化成株式會社 |
| 主分類號: | H01M4/38 | 分類號: | H01M4/38;H01M4/04;H01M4/134;H01M4/1395;H01M10/0525 |
| 代理公司: | 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444 | 代理人: | 孫揚;龔敏 |
| 地址: | 日本國大阪府大阪*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鋰離子電池 負極 材料 制造 方法 裝置 | ||
1.一種鋰離子電池的負極材料,其具有將晶體硅粉碎而成的硅微粒。
2.根據權利要求1所述的鋰離子電池的負極材料,所述晶體硅為由固結磨粒線鋸切削出的切削粉或切削屑。
3.根據權利要求1或2所述的鋰離子電池的負極材料,所述硅微粒由砂磨機將所述晶體硅粉碎而成。
4.根據權利要求1到3中任一項權利要求所述的鋰離子電池的負極材料,利用X射線衍射可測得由晶體硅形成的硅微粒在2θ=28.4°附近歸屬于Si(111)的衍射峰的強度,該強度大于其他衍射峰的強度。
5.根據權利要求1到4中任一項權利要求所述的鋰離子電池的負極材料,所述負極材料包括微晶,該微晶在透射電子顯微鏡的圖像上能觀察到,形成所述硅微粒且呈不規則多邊形。
6.一種鋰離子電池,其具有負極材料,所述負極材料具有將晶體硅粉碎而成的硅微粒。
7.根據權利要求6所述的鋰離子電池,所述晶體硅為由固結磨粒線鋸切削出的切削粉或切削屑。
8.根據權利要求6或7所述的鋰離子電池,所述硅微粒由砂磨機將所述晶體硅粉碎而成。
9.根據權利要求6到8中任一項權利要求所述的鋰離子電池,利用X射線衍射可測得由晶體硅形成的硅微粒在2θ=28.4°附近歸屬于Si(111)的衍射峰的強度,該強度大于其他衍射峰的強度。
10.根據權利要求6到9中任一項權利要求所述的鋰離子電池,所述負極材料包括微晶,該微晶在透射電子顯微鏡的圖像上能觀察到,形成所述硅微粒且呈不規則多邊形。
11.根據權利要求6到10中任一項權利要求所述的鋰離子電池,在給具有所述負極材料的負極提供5000(mA/g)的電流密度的條件下,反復對所述鋰離子電池充放電30次,第30次的充電容量(mAh/g)比第1次的充電容量低0.5%以下。
12.一種裝置,其具有根據權利要求6到11中任一項權利要求所述的鋰離子電池。
13.一種鋰離子電池的負極材料的制造裝置,其具有將晶體硅粉碎而形成硅微粒的粉碎部。
14.根據權利要求13所述的鋰離子電池的負極材料的制造裝置,所述晶體硅為由固結磨粒線鋸切削出的切削粉或切削屑。
15.根據權利要求13或14所述的鋰離子電池的負極材料的制造裝置,所述硅微粒由砂磨機將所述晶體硅粉碎而成。
16.根據權利要求13到15中任一項權利要求所述的鋰離子電池的負極材料的制造裝置,所述制造裝置具有形成硅微粒的粉碎部,利用X射線衍射可測得所述硅微粒在2θ=28.4°附近歸屬于Si(111)的衍射峰的強度,該強度大于其他衍射峰的強度。
17.一種鋰離子電池的負極的制造裝置,其具有將晶體硅粉碎而形成硅微粒的粉碎部,所述硅微粒用作負極材料。
18.根據權利要求17所述的鋰離子電池的負極的制造裝置,所述晶體硅為由固結磨粒線鋸切削出的切削粉或切削屑。
19.根據權利要求17或18所述的鋰離子電池的負極的制造裝置,所述硅微粒由砂磨機將所述晶體硅粉碎而成。
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