[發明專利]分析裝置以及X射線衍射裝置

在審

• 申請號: 202010435645.3
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN112067639A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 岡本康之;鈴木桂次郎
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N23/207
• 分類號: G01N23/207
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種分析裝置，利用通過對試樣進行分析而得到的波形圖案來鑒定所述試樣中包含的物質，所述分析裝置具備：

數據庫，其收錄有多個已知物質的標準波形圖案；

候選提取部，其對通過分析試樣而得到的實測波形圖案與所述數據庫中收錄的各物質的標準波形圖案的相似性進行評價，提取表示相似性高的標準波形圖案的物質來作為鑒定候選；以及

顯示處理部，其制作配置有第一顯示欄和第二顯示欄的顯示畫面并顯示在顯示部中，其中，所述第一顯示欄顯示由所述候選提取部提取出的一個或多個鑒定候選的信息，所述第二顯示欄針對在所述數據庫中收錄的物質中的、預先決定的特定的一種或多種物質來顯示包含所述候選提取部中的相似性的評價結果的該物質的信息。

2.一種X射線衍射裝置，利用通過對試樣進行X射線衍射分析而得到的X射線衍射圖案來鑒定所述試樣中包含的物質，所述X射線衍射裝置具備：

數據庫，其收錄有多個已知物質的標準X射線衍射圖案；

候選提取部，其對通過分析試樣而得到的實測X射線衍射圖案與所述數據庫中收錄的各物質的標準X射線衍射圖案的相似性進行評價，提取表示相似性高的標準X射線衍射圖案的物質來作為鑒定候選；以及

顯示處理部，其制作配置有第一顯示欄、第二顯示欄以及波形顯示欄的顯示畫面并顯示在顯示部中，其中，所述第一顯示欄顯示由所述候選提取部提取出的一個或多個鑒定候選的信息，所述第二顯示欄針對在所述數據庫中收錄的物質中的、預先決定的特定的一種或多種物質來顯示包含所述候選提取部中的相似性的評價結果的該物質的信息，所述波形顯示欄顯示所述實測X射線衍射圖案。

3.根據權利要求2所述的X射線衍射裝置，其特征在于，

所述特定的一種或多種物質是被分類為石棉和游離硅酸的物質。