[發明專利]電阻測試電路及電阻測試方法

在審

• 申請號: 202010435210.9
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN113702711A
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 周健
• 申請（專利權）人: 圣邦微電子（北京）股份有限公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14;G01R1/30
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449
• 代理人: 蔡純;張靖琳

本發明涉及電阻測量技術領域，提供了一種電阻測試電路及電阻測試方法，用于測量兩個被測電阻的電阻差值，該電阻測試電路包括：分壓模塊，包括串聯于供電端與地之間的電流源、標準電阻、第一待測電阻和第二待測電阻；第一測試模塊，根據該標準電阻兩端的電壓生成第一測試電壓；第二測試模塊，根據該第一待測電阻兩端的電壓和該第二待測電阻兩端的電壓生成第二測試電壓，其中，該第二測試電壓表征該第一待測電阻和第二待測電阻的電阻差值，該電阻測試電路根據該標準電阻的阻值、該第一測試電壓和該第二測試電壓獲得第一待測電阻和第二待測電阻的電阻差值。由此提高了可實現兩個被測電阻差值測量的電路的測量精度及該電路的可靠性。

技術領域

本發明涉及電阻測量領域，具體涉及一種電阻測試電路及電阻測試方法。

背景技術

電阻是基本的電參數之一，其測量的方法很多，為了能夠準確實用的測量電阻值，對于不同電阻采用的測量方法和使用的儀表不同。

目前測兩個電阻的差值的方案是分別測試兩個電阻的阻值，然后進行相減運算。現有的一種測試電阻的方案是按照如圖1所示的電阻測試電路，對MN兩節點之間的電阻阻值R進行測量，這種測量方法被稱為四線法測電阻。其中，A端連接的是電流源I，B端接地，C端和D端分別與電阻R的M和N兩節點相連接。C端和D端之間連接電壓表V。這種測量方式能夠避免連線AM和連線BN之間的寄生電阻對測試結果產生影響。測得的電阻阻值是C端和D端連接的電壓表V測得的電壓值與流過電阻R的電流值的比值。

但該種方法在成測(Final Test)過程中，電阻的測試精度直接受到電壓表精度與電流源精度的限制。一般的，測試機臺上配置的較高精度的電壓表精度是0.05％，電流源精度是0.05％。也就是說在測量電壓和測量流過電阻的電流的時候，均會出現萬分之五的隨機誤差。按照現有方案，這兩個誤差疊加將會使測得的單個電阻的阻值將出現接近千分之一的測試誤差，對兩個電阻阻值做差后將出現千分之二的誤差，這顯然是不能滿足高精度的電阻阻值差值的測量需求，同時其可靠性較差。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種電阻測試電路及電阻測試方法，可以提高兩個被測電阻的差值測量電路的測量精度，同時提高了測試系統的可靠性。

一方面本發明提供了一種電阻測試電路，用于測量兩個被測電阻的電阻差值，該電阻測試電路包括：

分壓模塊，包括串聯于供電端與地之間的電流源、標準電阻、第一待測電阻和第二待測電阻；

第一測試模塊，其輸入端連接標準電阻的兩端形成第一路徑，根據該標準電阻兩端的電壓生成第一測試電壓；

第二測試模塊，其輸入端分別連接在第一待測電阻的兩端和第二待測電阻的兩端，根據該第一待測電阻兩端的電壓和該第二待測電阻兩端的電壓生成第二測試電壓，

其中，該第二測試電壓表征前述第一待測電阻和前述第二待測電阻的電阻差值，該電阻測試電路根據標準電阻的阻值、第一測試電壓和前述第二測試電壓獲得該第一待測電阻和該第二待測電阻的電阻差值。

優選地，第二測試模塊包括：

第一測試單元，其輸入端連接第一待測電阻的兩端形成第二路徑，根據該第一待測電阻兩端的電壓生成第三測試電壓；

第二測試單元，其輸入端連接第二待測電阻的兩端形成第三路徑，根據該第二待測電阻兩端的電壓生成第四測試電壓；

第三測試單元，其輸入端分別連接前述第一測試單元的輸出端和前述第二測試單元的輸出端，根據前述第三測試電壓和前述第四測試電壓生成前述的第二測試電壓。

優選地，該第一測試模塊包括第一放大器。

優選地，該第一測試單元包括第三放大器，該第二測試單元包括第四放大器，該第三測試單元包括第二放大器。