[發明專利]一種測試用例設計方法及裝置

有效

• 申請號: 202010435192.4
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN111597081B
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 張智斌;鄧郡
• 申請（專利權）人: 北京潤科通用技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張娜

1.一種測試用例設計方法，其特征在于，所述方法包括：

創建第一電子系統的工程變量庫，所述工程變量庫中包含N個具有層級結構的第一變量，其中，所述創建第一電子系統的工程變量庫，包括：接收導入的ICD接口控制文件，解析所述ICD接口控制文件，以得到所述第一變量；

生成所述第一變量與ICD域之間的映射關系；

采用結構化形式建立面向所述第一變量的測試用例，并結合所述映射關系生成面向所述ICD域的測試用例。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成所述第一變量與ICD域之間的映射關系，包括：

獲取解析所述ICD接口控制文件后所得到的ICD域；

綁定所述第一變量和所述ICD域，得到所述映射關系。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述創建第一電子系統的工程變量庫，還包括：

響應于用戶的變量創建操作，得到所述第一變量；

相應的，所述生成所述第一變量與ICD域之間的映射關系，包括：

響應于用戶的ICD域創建操作，得到所述ICD域；

綁定所述第一變量和所述ICD域，得到所述映射關系。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在所述綁定所述第一變量和所述ICD域之前，所述方法還包括：

對所述第一變量的單位屬性和所述ICD域的單位屬性進行一致性校驗，并同步。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用結構化形式建立面向所述第一變量的測試用例，包括：

從所述工程變量庫中篩選與用戶所輸入的關鍵詞相匹配的目標變量；

為所述目標變量進行賦值，得到面向所述目標變量的測試用例。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用結構化形式建立面向所述第一變量的測試用例，包括：

導入第二電子系統的面向第二變量的測試用例，所述第二電子系統與所述第一電子系統的類型相同；

復用所述第二變量中與所述第一變量名稱相同的同名變量的測試用例，作為面向所述同名變量的測試用例。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述采用結構化形式建立面向所述第一變量的測試用例，還包括：

從所述工程變量庫中篩選所述第一變量中與所述第二變量名稱不相同的非同名變量；

為所述非同名變量進行賦值，得到面向所述非同名變量的測試用例。

8.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，在所述復用所述第二變量中與所述第一變量名稱相同的同名變量的測試用例之前，所述方法還包括：

對所述第一變量的單位屬性和所述第二變量中與所述第一變量名稱相同的同名變量的單位屬性進行一致性校驗，并同步。

9.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

對所述第二變量中除所述同名變量之外的其他變量進行標識。

10.一種測試用例設計裝置，其特征在于，所裝置包括：

創建模塊，用于創建第一電子系統的工程變量庫，所述工程變量庫中包含N個具有層級結構的第一變量，其中，所述創建第一電子系統的工程變量庫，包括：接收導入的ICD接口控制文件，解析所述ICD接口控制文件，以得到所述第一變量；

關系生成模塊，用于生成所述第一變量與ICD域之間的映射關系；

用例生成模塊，用于采用結構化形式建立面向所述第一變量的測試用例，并結合所述映射關系生成面向所述ICD域的測試用例。