[發明專利]用于生成圖像數據的方法和計算機斷層掃描系統在審
| 申請號: | 202010432229.8 | 申請日: | 2020-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN111973210A | 公開(公告)日: | 2020-11-24 |
| 發明(設計)人: | T·阿爾門丁格爾;C·霍夫曼;H·舍恩杜貝 | 申請(專利權)人: | 西門子醫療有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 趙林琳;張鵬 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 生成 圖像 數據 方法 計算機 斷層 掃描 系統 | ||
1.一種用于借助計算機斷層掃描系統(2)生成檢查對象(20)的圖像數據的方法,所述計算機斷層掃描系統(2)具有:
-一個數據處理單元(22),
-一個X射線源(14)以及一個X射線探測器(16),所述X射線源(14)和所述X射線探測器(16)懸掛在一個支架(8)處并且繞z軸(18)可旋轉地被支承,和
-用于支承所述檢查對象(20)的一個檢查臺(4)以及相對于所述檢查臺(4)以固定的相對位置布置的一個參考對象(6),
其中
-所述X射線源(14)和所述X射線探測器(16)相對于所述檢查對象(20)移動(A),以生成原始數據集,
-在生成所述原始數據集時,借助于X射線對所述檢查對象(20)的至少一部分與所述參考對象(6)的至少一部分一起進行掃描(A),并且
-對所述參考對象(6)的至少一部分的掃描被用于在X射線源(14)和X射線探測器(16)相對于所述檢查對象(20)移動時至少部分地補償運動誤差的影響(B至E)。
2.根據權利要求1所述的方法,其中將來自所述原始數據集的數據或從所述原始數據集導出的數據與訓練后的數據進行比較,并且其中由此確定用于生成所述檢查對象(20)的圖像數據的至少一個校正量(B至E)。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其中在生成所述檢查對象(20)的圖像數據之前,首先基于所述原始數據集生成所述參考對象(6)的圖像數據(B),其中在評估過程中將所述參考對象(6)的圖像數據與所述參考對象(6)的訓練后的圖像數據進行比較(C),并且其中利用所述評估過程通過所述圖像數據比較來確定至少一個校正量(C)。
4.根據權利要求3所述的方法,其中所述圖像數據代表所述參考對象(6)的多個斷層圖像。
5.根據權利要求2至4中任一項所述的方法,其中在校正過程中基于所述原始數據集并借助于至少一個所確定的校正量生成校正后的原始數據集(D),并且其中基于所述校正后的原始數據集生成所述檢查對象(20)的圖像數據以及特別是斷層圖像(E)。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法,其中進行螺旋掃描以生成所述原始數據集。
7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其中在生成所述原始數據集時,使具有所述X射線源(14)和所述X射線探測器(16)的支架(8)相對于所述檢查臺(4)自由移動。
8.根據權利要求1至7中任一項所述的方法,其中所述參考對象(6)沿縱軸線(26)延伸,并且其中所述參考對象(6)橫向于所述縱軸線(26)的橫截面沿所述縱軸線(26)變化。
9.根據權利要求1至8中任一項所述的方法,其中具有環形或盤形的多個元件(28)。
10.根據權利要求9所述的方法,其中所述多個元件(28)同心地布置并且沿縱軸線(26)依次排列。
11.根據權利要求9或10所述的方法,其中所述多個元件(28)具有不同的直徑。
12.根據權利要求9至11中任一項所述的方法,其中所述多個元件(28)中的若干元件具有凹部(30)。
13.根據權利要求12所述的方法,其中所述參考對象(6)沿縱軸線(26)延伸,并且其中所述凹部(30)位于繞縱軸線(26)的不同角位置。
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