[發明專利]圖像局部信息生成方法、裝置、電子設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202010431392.2
• 申請日: 2020-05-20
• 公開（公告）號: CN111639655B
• 公開（公告）日: 2023-10-13
• 發明（設計）人: 楊敏;孟驤龍;任暉
• 申請（專利權）人: 北京百度網訊科技有限公司
• 主分類號: G06V10/44
• 分類號: G06V10/44;G06V10/46;G06V10/75;G06V10/74
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

1.一種圖像局部信息生成方法，其特征在于，包括：

獲取圖像集中各圖像的特征點和特征描述子；

計算所述圖像集中第一圖像的第一特征點與第二圖像的特征點的特征描述子距離；

對所述第二圖像中所述特征描述子距離滿足第一條件的第二特征點進行隨機抽樣一致校驗，以得到校驗通過的特征點和/或校驗未通過特征點；

生成圖像局部相關性信息，其中，所述圖像局部相關性信息包括所述第一特征點與匹配特征點的關聯信息，所述匹配特征點包括：所述校驗通過的特征點，和/或，所述校驗未通過特征點中利用變換單應性矩進行挖掘并確認匹配的特征點，所述變換單應性矩陣是依據所述隨機抽樣一致校驗獲得的。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述第二圖像中與所述第一特征點的距離滿足第一條件的特征點進行隨機抽樣一致校驗之后，所述方法還包括如下至少一項：

利用所述變換單應性矩陣對所述第二圖像的第三特征點進行挖掘，以得到第一挖掘特征點；其中，所述第三特征點包括：所述第二圖像中所述特征描述子距離滿足第二條件的特征點；且若所述第一挖掘特征點與所述第一特征點匹配，則所述匹配特征點包括所述第三特征點，若所述第一挖掘特征點與所述第一特征點不匹配，則所述匹配特征點不包括所述第三特征點；

利用所述變換單應性矩陣對所述校驗未通過特征點進行挖掘，以得到第二挖掘特征點；其中，若所述第二挖掘特征點與所述第一特征點匹配，則所述校驗未通過特征點為所述利用所述變換單應性矩進行挖掘并確認匹配的特征點，若所述第二挖掘特征點與所述第一特征點匹配，則所述匹配特征點不包括所述校驗未通過特征點。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一挖掘特征點包括第一映射點和第二映射點，所述利用所述變換單應性矩陣對所述第二圖像的第三特征點進行挖掘，以得到第一挖掘特征點，包括：

利用所述變換單應性矩將所述第二圖像的所述第三特征點映射至所述第一圖像上，以得到所述第一映射點；

利用所述變換單應性矩將所述第二圖像的關聯特征點映射至所述第一圖像上，以得到所述第二映射點，其中，所述關聯特征點與所述第三特征點的位置距離等于預設距離。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述生成圖像局部相關性信息之前，所述方法還包括：

計算所述第一映射點和所述第二映射點的位置距離，以及計算所述第一映射點與所述第一特征點的位置距離差；

計算所述位置距離差與所述位置距離的比值；

其中，若所述比值與預設比值匹配，則所述第一挖掘特征點與所述第一特征點匹配，若所述比值與預設比值不匹配，則所述第一挖掘特征點與所述第一特征點不匹配。

5.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二特征點的所述特征描述子距離小于所述第三特征點的所述特征描述子距離。

6.一種圖像局部信息生成裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取圖像集中各圖像的特征點和特征描述子；

第一計算模塊，用于計算所述圖像集中第一圖像的第一特征點與第二圖像的特征點的特征描述子距離；

校驗模塊，用于對所述第二圖像中所述特征描述子距離滿足第一條件的第二特征點進行隨機抽樣一致校驗，以得到校驗通過的特征點和/或校驗未通過特征點；

生成模塊，用于生成圖像局部相關性信息，其中，所述圖像局部相關性信息包括所述第一特征點與匹配特征點的關聯信息，所述匹配特征點包括：所述校驗通過的特征點，和/或，所述校驗未通過特征點中利用變換單應性矩進行挖掘并確認匹配的特征點，所述變換單應性矩陣是依據所述隨機抽樣一致校驗獲得的。