[發(fā)明專利]一種用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)及其應(yīng)用

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010431110.9
• 申請(qǐng)日: 2020-05-20
• 公開（公告）號(hào): CN111551504A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 不公告發(fā)明人
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 金華伏安光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/21
• 分類號(hào): G01N21/21;G01R33/032
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括襯底、斷開式微納結(jié)構(gòu)層、金剛石顆粒，所述斷開式微納結(jié)構(gòu)層位于所述襯底上，所述金剛石顆粒固定于所述襯底的另一側(cè)，所述金剛石顆粒中均含有氮-空位色心，所述斷開式微納結(jié)構(gòu)層包括周期排列的斷開式微納結(jié)構(gòu)，所述斷開式微納結(jié)構(gòu)包括按照順時(shí)針方向依次排列的第一部、第二部、第三部，所述第一部、所述第二部、所述第三部為弧形并且具有相同的曲率半徑，所述第一部、所述第二部、所述第三部構(gòu)成具有三處斷開的斷開圓環(huán)，所述第一部、所述第二部、所述第三部為貴金屬材料。

2.如權(quán)利要求1所述的用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)，其特征在于：所述第一部、所述第二部、所述第三部的長(zhǎng)度不相等。

3.如權(quán)利要求2所述的用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)，其特征在于：所述第一部的高度小于所述第二部的高度，所述第二部的高度小于所述第三部的高度。

4.如權(quán)利要求3所述的用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)，其特征在于：所述襯底為不透光材料。

5.如權(quán)利要求4所述的用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)，其特征在于：所述襯底為陶瓷材料。

6.如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)的應(yīng)用方法，其特征在于：包括如下步驟：

第一步、在所述斷開式微納結(jié)構(gòu)層上設(shè)置待測(cè)的手性分子；

第二步、應(yīng)用不同偏振的圓偏振光照射手性分子；

第三步、應(yīng)用預(yù)定波長(zhǎng)的激光激發(fā)所述金剛石顆粒，所述金剛石顆粒中的氮-空位色心受激輻射熒光，同時(shí)，施加預(yù)定頻率范圍的微波掃頻信號(hào)，在激光和微波的共同作用下，所述金剛石顆粒中氮-空位色心能級(jí)分裂，通過分析熒光強(qiáng)度和微波頻率之間的關(guān)系，確定不同偏振的圓偏振光照射手性分子時(shí)所述金剛石顆粒處磁場(chǎng)的強(qiáng)度；

第四步、通過分析不同偏振的圓偏振光照射手性分子時(shí)磁場(chǎng)強(qiáng)度的差異，確定分子的手性。

7.如權(quán)利要求6所述的用于探測(cè)分子手性的斷開式微納結(jié)構(gòu)的應(yīng)用方法，其特征在于：第三步中所述激光的波長(zhǎng)為532納米，所述微波的頻率范圍為2.8GHz-2.94GHz。