[發明專利]一種用于探測分子手性的斷開式微納結構及其應用

在審

• 申請號: 202010431110.9
• 申請日: 2020-05-20
• 公開（公告）號: CN111551504A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 金華伏安光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/21
• 分類號: G01N21/21;G01R33/032
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于探測分子手性的斷開式微納結構，其特征在于，包括襯底、斷開式微納結構層、金剛石顆粒，所述斷開式微納結構層位于所述襯底上，所述金剛石顆粒固定于所述襯底的另一側，所述金剛石顆粒中均含有氮-空位色心，所述斷開式微納結構層包括周期排列的斷開式微納結構，所述斷開式微納結構包括按照順時針方向依次排列的第一部、第二部、第三部，所述第一部、所述第二部、所述第三部為弧形并且具有相同的曲率半徑，所述第一部、所述第二部、所述第三部構成具有三處斷開的斷開圓環，所述第一部、所述第二部、所述第三部為貴金屬材料。

2.如權利要求1所述的用于探測分子手性的斷開式微納結構，其特征在于：所述第一部、所述第二部、所述第三部的長度不相等。

3.如權利要求2所述的用于探測分子手性的斷開式微納結構，其特征在于：所述第一部的高度小于所述第二部的高度，所述第二部的高度小于所述第三部的高度。

4.如權利要求3所述的用于探測分子手性的斷開式微納結構，其特征在于：所述襯底為不透光材料。

5.如權利要求4所述的用于探測分子手性的斷開式微納結構，其特征在于：所述襯底為陶瓷材料。

6.如權利要求1-5任一項所述的用于探測分子手性的斷開式微納結構的應用方法，其特征在于：包括如下步驟：

第一步、在所述斷開式微納結構層上設置待測的手性分子；

第二步、應用不同偏振的圓偏振光照射手性分子；

第三步、應用預定波長的激光激發所述金剛石顆粒，所述金剛石顆粒中的氮-空位色心受激輻射熒光，同時，施加預定頻率范圍的微波掃頻信號，在激光和微波的共同作用下，所述金剛石顆粒中氮-空位色心能級分裂，通過分析熒光強度和微波頻率之間的關系，確定不同偏振的圓偏振光照射手性分子時所述金剛石顆粒處磁場的強度；

第四步、通過分析不同偏振的圓偏振光照射手性分子時磁場強度的差異，確定分子的手性。

7.如權利要求6所述的用于探測分子手性的斷開式微納結構的應用方法，其特征在于：第三步中所述激光的波長為532納米，所述微波的頻率范圍為2.8GHz-2.94GHz。