[發(fā)明專利]固態(tài)硬盤多功能自動測試系統(tǒng)及其方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010429729.6
• 申請日: 2020-05-20
• 公開（公告）號: CN111508551B
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發(fā)明（設計）人: 杜宏強;劉升;唐偉;付偉龍;白嬋娟;高雅
• 申請（專利權）人: 堯云科技（西安）有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 西安億諾專利代理有限公司 61220
• 代理人: 賀珊

本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤多功能自動測試系統(tǒng)及其方法。固態(tài)硬盤多功能自動測試系統(tǒng)及其方法，包括溫度環(huán)境工作室、測試監(jiān)控中心、程控直流穩(wěn)壓電源、交換機、控制中心及與其分別連接的交流供電系統(tǒng)；溫度環(huán)境工作室包括用于設置固態(tài)硬盤的測試支架及環(huán)境監(jiān)測裝置；測試監(jiān)控中心包括測試主機及與測試主機分別連接的高速信號處理板及多功能電源管理板；固態(tài)硬盤一方面依次通過測試支架、高速信號處理板連接測試主機，一方面依次通過測試支架、多功能電源管理板連接測試主機及程控直流穩(wěn)壓電源，程控直流穩(wěn)壓電源還連接控制中心；環(huán)境監(jiān)測裝置通過交換機連通測試主機；交換機與控制中心連接。本發(fā)明保證固態(tài)硬盤測試時的可靠性、安全性及準確性。

技術領域

本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤測試技術領域，具體地涉及一種固態(tài)硬盤多功能自動測試系統(tǒng)及其方法。

背景技術

隨著信息社會的快速發(fā)展，數(shù)據(jù)以幾何倍數(shù)增長。人們?yōu)榱烁斓墨@取并存儲這些數(shù)據(jù)，提出了固態(tài)存儲的概念乃至后來形成了較為完整的產(chǎn)業(yè)鏈。固態(tài)硬盤則屬于固態(tài)存儲的一個分支，該類硬盤優(yōu)勢突出，具有重量輕、體積小、傳輸速率高以及容量密度高等特點。以SATA、SAS以及PCIe接口為代表的固態(tài)硬盤，其讀寫速度、單位時間數(shù)據(jù)吞吐量相較傳統(tǒng)機械式硬盤均有數(shù)倍至數(shù)百倍提升，而平均訪問時間僅為后者的千分之一。同時伴隨著存儲介質FLASH制造工藝的進步和固件算法的優(yōu)化，不僅固態(tài)硬盤單位GB的價格在加速下降，而且可靠性和耐久性穩(wěn)步提升。因此，固態(tài)硬盤替代傳統(tǒng)機械硬盤成為市場主流存儲載體已是社會廣泛共識。

然而由于國內(nèi)固態(tài)存儲行業(yè)起步晚，所以盡管固態(tài)硬盤的種類在市面上已較為豐富，但相應的調試、測試手段卻較為原始和單一，均以人工為主，這就帶來了效率低、可靠性低、安全隱患高、測試不準確等負面影響。對國防工業(yè)以及金融系統(tǒng)等可靠性要求高的行業(yè)來說，這種不利影響是不可接受的。因此行業(yè)內(nèi)亟待需要一種可靠的、準確的、全面的、自動化的測試系統(tǒng)，使得固態(tài)硬盤的測試可以批量化和標準化，從而間接提高固態(tài)硬盤的自身品質并減輕生產(chǎn)企業(yè)的成本壓力。

目前，國內(nèi)相關的現(xiàn)有技術方案還停留在測試功能單一、測試固態(tài)硬盤數(shù)量少以及測試可靠性差的初級階段，而本發(fā)明則同時解決了上述問題，極大幅度的提高了固態(tài)硬盤的測試效率和測試可靠性，滿足國防、金融等行業(yè)的需求。

現(xiàn)有技術一：申請公布號為CN 109285583 A、名稱為《NAND閃存固態(tài)硬盤空間環(huán)境效應測試系統(tǒng)及試驗方法》的專利方案中介紹了一種對固態(tài)硬盤進行空間環(huán)境效應分析、空間環(huán)境地面模擬試驗的測試系統(tǒng)和試驗方法。該系統(tǒng)主要由測試機主板、測試機電源、程控電源和測試機顯示器組成，需要在額外的模擬空間環(huán)境下對固態(tài)硬盤進行測試，記錄其分別在溫度試驗環(huán)境、單粒子輻照試驗環(huán)境、總劑量輻照試驗環(huán)境下的性能表現(xiàn)，系統(tǒng)組成附圖1所示。測試機上使用的軟件為IOmeter。存在如下缺點：1)該測試系統(tǒng)的組成過于簡單，僅包含性能測試的基本組件，固態(tài)硬盤的關鍵電氣參數(shù)并不能單獨測試并記錄；2)該測試系統(tǒng)的測試環(huán)境屬于另外配置，并不屬于測試系統(tǒng)自身，因此測試環(huán)境的不確定性對測試結果帶來了不確定因素，進而影響了測試結果的可靠性；3)該測試系統(tǒng)主要測試在溫度、單粒子輻照、總劑量輻照環(huán)境下固態(tài)硬盤的性能，其面向對象僅為航天系統(tǒng)，不具有普遍適用性；4)由于測試機主板接口數(shù)量的限制，該測試系統(tǒng)每次測試固態(tài)硬盤數(shù)最多僅為5~6個，難以滿足批量化要求；5)使用外部SATA連接線將測試系統(tǒng)與測試環(huán)境中的待測固態(tài)盤連接，在實際工作時存在因接觸不可靠、導線過長造成的壓降過大而對固態(tài)硬盤的狀態(tài)產(chǎn)生誤判的可能性；6)盡管測試軟件為免費使用的IOmeter，但若將其作為測試系統(tǒng)的附帶配件而出售的話，還存在版權的爭議。