[發明專利]一種基于電磁鉗注入的傳導抗干擾測試系統及方法

在審

• 申請號: 202010426891.2
• 申請日: 2020-05-19
• 公開（公告）號: CN111413574A
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發明（設計）人: 黃輝軍;周斌;萬春旭;束仁志
• 申請（專利權）人: 長虹美菱股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 孫永智

1.一種基于電磁鉗注入的傳導抗干擾測試系統，其特征在于，包括上位機、射頻信號發生器、衰減器、電磁耦合鉗、第一耦合/去耦網絡、第二耦合/去耦網絡、第三耦合/去耦網絡以及第四耦合/去耦網絡；

所述上位機用于顯示測試結果；所述上位機通過數據傳輸模塊與射頻信號發生器之間保持數據的交互；所述射頻信號發生器與衰減器相聯接；所述衰減器通過第一耦合/去耦網絡與電磁耦合鉗的射頻相聯接；

所述電磁耦合鉗用于將騷擾信號添加至被測設備上；所述電磁耦合鉗與第二耦合/去耦網絡相聯接，且所述第二耦合/去耦網絡接地；所述第三耦合/去耦網絡和第四耦合/去耦網絡分別聯接于電磁耦合鉗的輸入端和輸出端上，且所述第三耦合/去耦網絡和第四耦合/去耦網絡均接地。

2.一種基于電磁鉗注入的傳導抗干擾測試方法，其特征在于，包括：首先，將被測設備的受測部分連接于電磁耦合鉗上；其次，開啟射頻信號發生器后，射頻信號發生器產生干擾信號，電磁耦合鉗將干擾信號施加于被測設備的受測部分；最后，上位機顯示出測試結果。