[發明專利]一種ADC性能測試電路、芯片和設備

在審

• 申請號: 202010425305.2
• 申請日: 2020-05-19
• 公開（公告）號: CN111398796A
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 孫慶凱;陶明;吳忠潔
• 申請（專利權）人: 上海靈動微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317;G01R31/3181
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 郭桂峰

本發明提供了一種ADC性能測試電路、芯片和設備，其電路包括：測試模塊，放置有待測芯片，用于接入對應ADC通道所輸入的測試信號至所述待測芯片進行測試，并將產生的測試數據先從ADC通道的數據寄存器存儲到數組中，再將數組中的測試數據搬運到第一儲存模塊；控制模塊，與所述測試模塊連接，用于讀取所述第一儲存模塊儲存的所述測試數據進行處理得到所述待測芯片的靜態參數和動態參數。本發明解決數據實時存儲困難的問題，并實現了數據儲存穩定，準確高效的效果，以及有效可靠地自動化測試ADC的動態參數和靜態參數。

技術領域

本發明涉及ADC測試技術領域，尤指一種ADC性能測試電路、芯片和設備。

背景技術

隨著工、農業的發展，多路數據采集勢必將得到越來越多的應用，為適應這一趨勢，作這方面的研究就顯得十分重要。總之，不論在哪個應用領域中，數據采集與處理將直接影響工作效率和所取得的經濟效益。數據采集系統，從嚴格的意義上來說，應該是用計算機控制的多路數據自動檢測或巡回檢測，并且能夠對數據實行存儲、處理、分析計算以及從檢測的數據中提取可用的信息，供顯示、記錄、打印或描繪的系統。

在數據采集系統中，ADC(Analog-to-DigitalConverter)即模擬/數字轉換器是模擬量與數字量接口的關鍵部件。現實世界中的信號，如溫度、聲音、無線電波、或者圖像等，都是模擬信號，需要轉換成容易儲存、進行編碼、壓縮、或濾波等處理的數字形式，模擬/數字轉換器正是為此而誕生，發揮出不可替代的作用。目前，隨著數字處理技術的飛速發展，在通訊、消費電器、工業與醫療儀器以及軍工產品中，對ADC的需求越來越多。ADC的測試是進行ADC研究、新產品試制和開發，以及ADC生產與應用中不可缺少的一個重要手段。

ADC的性能好壞直接影響整個系統指標的高低和性能好壞，從而使得ADC的性能測試變得十分重要。高速、高精度、低功耗、多通道是ADC未來的發展趨勢。對于ADC來說，其動態參數和靜態參數均格外重要，因而如何成為非常有意義的工作。因而，如何解決現有ADC測試中數據實時存儲困難的問題，以及如何自動化測試ADC的動態參數和靜態參數是目前本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種ADC性能測試電路、芯片和設備，實現解決數據實時存儲困難的問題，以及有效可靠地自動化測試ADC的動態參數和靜態參數。

本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種ADC性能測試電路，其特征在于，包括：測試模塊，放置有待測芯片，用于接入對應ADC通道所輸入的測試信號至所述待測芯片，并將產生的測試數據先從ADC通道的數據寄存器存儲到數組中，再將數組中的測試數據搬運到第一儲存模塊；

控制模塊，與所述測試模塊連接，用于讀取所述第一儲存模塊儲存的所述測試數據進行處理得到所述待測芯片的靜態參數和動態參數。

本發明還提供一種芯片，其特征在于，集成有所述的ADC性能測試電路。

本發明還提供一種ADC性能測試設備，集成有所述的ADC性能測試電路。

通過本發明提供的一種ADC性能測試電路、芯片和設備，能夠解決數據實時存儲困難的問題，以及有效可靠地自動化測試ADC的動態參數和靜態參數。

附圖說明

下面將以明確易懂的方式，結合附圖說明優選實施方式，對一種ADC性能測試電路、芯片和設備的上述特性、技術特征、優點及其實現方式予以進一步說明。

圖1是本發明一種ADC性能測試電路的一個實施例的結構示意圖；

圖2是本發明一種ADC性能測試電路的另一個實施例的結構示意圖；

圖3是本發明一種ADC性能測試電路的另一個實施例的結構示意圖；