[發明專利]一種時滯系統最優魯棒分數階PIλ 有效
| 申請號: | 202010424839.3 | 申請日: | 2020-05-19 |
| 公開(公告)號: | CN111443600B | 公開(公告)日: | 2021-08-31 |
| 發明(設計)人: | 羅映;陳鵬沖 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | G05B11/42 | 分類號: | G05B11/42 |
| 代理公司: | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人: | 李智;孔娜 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 系統 最優 分數 pi base sup | ||
1.一種時滯系統最優魯棒分數階PIλD控制器的優化方法,其特征在于,該方法包括下列步驟:
(a)對于待優化一階慣性延遲控制系統,給定該一階慣性延遲系統的時滯系統增益K、時間常數T、時間延遲常數L、該控制系統中采用分數階PIλD控制器和增益-相位裕度測試器進行閉環控制,給定該控制系統的實際的穿越頻率ωgc和實際的相位裕度φm,構建所述控制系統的閉環傳遞函數;
(b)將所述一階慣性延遲控制系統、PIλD控制器和增益-相位裕度測試器各自對應的傳遞函數帶入所述閉環傳遞函數中,以此獲得該閉環傳遞函數的特征方程,其中,所述PIλD控制器中包含積分階次λ、比例系數Kp、積分增益Ki和微分增益Kd四個未知參數;
其中,所述特征方程按照下列表達式進行:
D(s;Kp,Ki,λ,Kd,A,φ)=sλ(Ts+1)+(Kpsλ+Ki+Kds1+λ)Ae-jφe-Ls
其中,Kp、Ki和Kd分別是比例系數、積分增益和微分增益,λ為積分階次,K、T和L分別是時滯系統增益、時間常數和時間延遲常數,A和φ分別是增益-相位裕度測試器的增益裕度和相位裕度;
(c)構建所述待優化一階慣性延遲控制系統所需滿足的約束條件,確定所述PIλD控制器中未知參數的取值范圍,根據所述約束條件和取值范圍求解并獲得所述PIλD控制器中未知參數的值,以此確定所述PIλD控制器,即實現優化過程;
所述約束條件包括以下四個約束:
其中,φm為實際的相位裕度,ωgc為實際的穿越頻率,ITAE為時間誤差絕對值積分,T為仿真總時間,e(t)為實際輸出與輸入參考信號的差值,t為實時仿真時間;
所述PIλD控制器中未知參數的取值范圍按照下列步驟進行確定:
(c1)對于所述特征方程,按照積分的分數階次、實根邊界、無窮根邊界和復根邊界分別確定特征方程中未知參數λ和Kd的取值范圍,Ki的邊界,以及Kp和Ki的求解表達式;
(c2)建立以所述Kp和Ki為橫縱坐標的坐標平面,在該平面內繪制獲得復根邊界和實根邊界,該復根邊界和實根邊界圍成閉合區域;
(c3)在所述閉合區域的內部和外部的點進行階躍響應仿真驗證,階躍響應穩定的點所在的區域即為穩定區域,該穩定區域內對應的Kp和Ki的取值范圍即為所述Kp和Ki的取值范圍;
在步驟(c1)中,所述Kp和Ki的求解表達式如下:
其中,
B1=ωλC2-Tω1+λS2
B2=Tω1+λC2+ωλS2
C1=cos(φ+ωL),
S1=sin(φ+ωL),
其中,B1、B2、C1、C2、C3、S1、S2和S3均是中間變量,ω是頻率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華中科技大學,未經華中科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010424839.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種混凝土硬度檢測裝置
- 下一篇:一種晶圓級RDL金屬線結構及其制備方法





