[發(fā)明專利]一種離軸成像系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測(cè)量方法和建模方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010424675.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-05-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113686546B | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張祥朝;牛振岐;朱睿 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02;G06F30/20 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人: | 陸惠中;王永偉 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 成像 系統(tǒng) 擴(kuò)散 函數(shù) 測(cè)量方法 建模 方法 | ||
1.一種離軸成像系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測(cè)量方法,其特征在于,采用投影屏幕作為標(biāo)準(zhǔn)物,顯示圓斑陣列,實(shí)現(xiàn)各個(gè)位置的擴(kuò)散函數(shù)的可靠測(cè)量,具體包括以下步驟:
S1:采用屏幕顯示二值化圓斑陣列,圓斑的直徑小于陣列周期的1/3;
S2:經(jīng)過離軸成像系統(tǒng)后由相機(jī)采集圖樣,每個(gè)圓斑對(duì)應(yīng)成為模糊像斑,利用下式計(jì)算圖樣各像素處光強(qiáng)梯度,I(u,v)為各像素處的光強(qiáng),(u,v)為像素坐標(biāo):
S3:根據(jù)各像斑的光強(qiáng)梯度分布,將光強(qiáng)梯度值最大的像素?cái)M合為橢圓,該橢圓曲線為該像斑中心區(qū)域的輪廓線,橢圓中心坐標(biāo)(u0,v0)作為整個(gè)像斑的中心,計(jì)算輪廓線外面各像素(u,v)到輪廓線上的最近像素坐標(biāo)(un,vn),利用下式將輪廓線外面各像素(u,v)向像斑中心移動(dòng),得到半徑為0的理想屏幕物點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)彌散斑(u’,v’):
(u',v')=(u,v)-(un,vn)+(u0,v0)
S4:對(duì)每個(gè)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)彌散斑,采用斜正態(tài)函數(shù)進(jìn)行擬合:
其中σ,κ1,κ2,α1,α2,ω為決定點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)形狀的參數(shù),(i,j)=(u’,v’)-(u0,v0)為彌散斑內(nèi)各像素的相對(duì)坐標(biāo);
S5:以采集到的所有彌散斑中心坐標(biāo)(u0,v0)為自變量,將彌散斑擬合的六個(gè)參數(shù)σ,κ1,κ2,α1,α2,ω視為因變量,分別擬合為關(guān)于(u0,v0)三次函數(shù),可得到點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)p(i,j)隨空間變化的分布規(guī)律。
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