[發明專利]面向多領域的高適應性識別計數方法有效
| 申請號: | 202010424473.X | 申請日: | 2020-05-19 |
| 公開(公告)號: | CN111583255B | 公開(公告)日: | 2023-06-13 |
| 發明(設計)人: | 郭凌宇;楊小冬;鄧詩語;鄭樹奎 | 申請(專利權)人: | 東莞市瑞圖新智科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06V10/25;G06V10/75 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 李寧 |
| 地址: | 523000 廣東省東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 面向 領域 適應性 識別 計數 方法 | ||
1.一種面向多領域的高適應性識別計數方法,適于對目標進行計數,其特征在于,包括如下步驟:
輸入待測圖像;
對所述待測圖像的待測區域進行基于灰度信息及形狀信息分析,得到目標區域ROI;
提取所述目標區域ROI的陣列特征;
提取所述目標區域ROI的形狀特征;
若所述目標呈規則陣列分布,則依據規則陣列對所述目標進行計數;
若所述目標呈非規則陣列分布,則依據所述形狀特征判斷所述目標是否呈規則形狀設置,依據判斷結果對所述目標進行計數;
其中,所述提取所述目標區域ROI的陣列特征,進一步包括如下步驟:
對所述目標區域ROI進行Blob分析,提取所述目標區域ROI的邊界;
將所述邊界進行直線擬合,得到若干線段,并篩選前40%長度的長線段;
計算所有長線段的角度,得出概率分布曲線;
若所述概率分布曲線為正態分布,則所述目標區域ROI為陣列特征,若所述概率分布曲線為均勻分布,則所述目標區域ROI為非陣列特征。
2.如權利要求1所述的面向多領域的高適應性識別計數方法,其特征在于,所述依據所述形狀特征判斷所述目標是否呈規則形狀設置,依據判斷結果對所述目標進行計數,具體包括如下步驟:
若所述目標呈規則形狀設置,則依據所述形狀特征對所述目標進行計數;
若所述目標呈非規則形狀設置,則對所述目標區域ROI進行差分法處理,得到初步目標區域;
判斷所述初步目標區域是否存在粘連,依據判斷結果對所述目標進行計數。
3.如權利要求2所述的面向多領域的高適應性識別計數方法,其特征在于,所述判斷所述初步目標區域是否存在粘連,依據判斷結果對所述目標進行計數,具體包括如下步驟:
若所述初步目標區域存在粘連,則消除所述初步目標區域的粘連,以得到不存在粘連的所述目標,并對所述目標進行計數;
若所述初步目標區域不存在粘連,則直接對所述目標進行計數。
4.如權利要求1所述的面向多領域的高適應性識別計數方法,其特征在于,所述若所述概率分布曲線為正態分布,則所述目標區域ROI為陣列特征,若所述概率分布曲線為均勻分布,則所述目標區域ROI為非陣列特征,進一步包括如下步驟:
若所述概率分布曲線為正態分布且具有多個波峰,則分別提取角度在-π/4~π/4的長線段和π/4~3π/4的長線段;
構建仿射變換矩陣,將所述目標區域ROI進行仿射變換,使其中的長線段水平;
變換后的所述目標區域ROI進行水平灰度投影,得到投影數組;
構建投影數組函數,并平滑所述投影數組函數;
求出所述投影數組函數的一階和二階導數;
求出所述投影數組函數的一階導數的零點所對應的坐標值,標記為灰度均質區域所在的坐標;
求出所述投影數組函數的一階導數值為零時對應的二階導數的值,并與預設閾值比較,得出所述灰度均質區域的中點坐標;
將得到的中點坐標數組進行錯位相減,得到均質區域間距值;
求平均后得到均質區域間距均值,并與均質區域間距值比較,剔除離群坐標,得到目標區域坐標;
若所述概率分布曲線為正態分布且具有一個波峰,則目標區域坐標數為所述目標的計數值;
若所述概率分布曲線為正態分布且具有多個波峰,構造目標區域坐標線段,并將線段逆仿射變換,則線段圍成的區域數量為所述目標的計數值。
5.如權利要求1所述的面向多領域的高適應性識別計數方法,其特征在于,所述提取所述目標區域ROI的形狀特征,進一步包括如下步驟:
建立多形狀特征模板庫;
對所述目標區域ROI進行多類型模板匹配,以確定最佳匹配方式;
計算多類型模板匹配,得到多結果數量;
若所述多結果數量均低于預設閾值,則判斷所述目標區域ROI為不規則形狀特征;
若多結果數量中至少一個的數量高于預設閾值,則判斷所述目標區域ROI為標準形狀特征,并通過對比數量得出最佳匹配方式;
依據所述最佳匹配方式得到匹配結果數量,所述匹配結果數量記為所述目標的計數值。
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