[發(fā)明專利]光譜儀裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010423260.5
• 申請日: 2020-05-19
• 公開（公告）號: CN111982280A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 斯特凡·蒙克;米夏埃爾·奧克魯斯;馬爾科·布勞恩
• 申請（專利權(quán)）人: 耶拿分析儀器股份公司
• 主分類號: G01J3/18
• 分類號: G01J3/18;G01J3/02
• 代理公司: 中原信達知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 穆森;戚傳江

1.一種用于分析來自光源(11)的光輻射(13)的光譜儀裝置(10)，包括：

-階梯光柵(31)，所述階梯光柵用于在主色散方向上對進入所述光譜儀裝置(10)的輻射(24)進行色散，

-色散元件(21)，所述色散元件用于在交叉色散方向上對所述輻射(24)進行色散，其中，所述主色散方向和所述交叉色散方向彼此具有可預(yù)確定角度，以及

-檢測器單元(39)，所述檢測器單元用于記錄包括第一可預(yù)確定波長范圍的所述輻射的第一部分(38、40)的第一光譜(64)，

其特征在于：

-所述光譜儀裝置(10)包括第一光學(xué)元件(37、48、52)，所述第一光學(xué)元件被以如此方式布置和/或配置，使得能夠借助于所述檢測器單元(39)獲取包括與所述第一可預(yù)確定波長范圍不同的第二可預(yù)確定波長范圍的所述輻射的第二部分(42)的第二光譜(65)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜儀裝置(10)，

其中，所述第一光學(xué)元件(37、48、52)是透鏡，特別是在一側(cè)上反射的透鏡，或者是反射鏡，特別是偏轉(zhuǎn)反射鏡。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光譜儀裝置(10)，

包括第二光學(xué)元件(35)，所述第二光學(xué)元件用于將所述輻射的所述第一部分(38、40)引導(dǎo)到所述檢測器單元(39)，其中，所述第二光學(xué)元件(35)優(yōu)選是反射鏡，特別是偏轉(zhuǎn)反射鏡。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光譜儀裝置(10)，

其中，所述第一光學(xué)元件(37、48、52)緊鄰所述第二光學(xué)元件(35)和/或相對于所述第二光學(xué)元件(35)以可預(yù)確定角度被布置。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光譜儀裝置(10)，

其中，根據(jù)所述輻射的第二部分(42)的所述第二波長范圍選擇所述第一光學(xué)元件(37、48、52)的所述可預(yù)確定角度和/或位置。

6.根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的光譜儀裝置(10)，

包括成像光學(xué)組件(17)，所述成像光學(xué)組件被設(shè)計成將所述輻射(37、48、52)的至少第一部分成像到像平面中，所述檢測器單元(39)被布置在所述像平面中。

7.根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的光譜儀裝置(10)，

其中，所述第一光學(xué)元件(37、48、52)被以如此方式布置和/或配置，使得所述輻射的所述第一部分(38、40)和所述輻射的所述第二部分(42)被成像到一個像平面中。

8.根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的光譜儀裝置(10)，

所述光譜儀裝置(10)被設(shè)計成交替接收所述輻射的所述第一部分(38、40)的第一光譜(64)和所述第二部分(42)的第二光譜(65)。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光譜儀裝置(10)，

包括特別是可移動的膜片單元(50)，所述膜片單元被設(shè)計成至少暫時地阻擋所述輻射的所述第一部分(38、40)的至少部分(38)或所述輻射的所述第二部分(42)的至少部分。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至7中至少一項所述的光譜儀裝置(10)，

所述光譜儀裝置(10)被設(shè)計成借助于所述檢測器單元(39)同時檢測所述輻射的所述第一部分(38、40)的所述第一光譜(64)和所述第二部分(42)的所述第二光譜(65)。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光譜儀裝置(10)，

所述光譜儀裝置(10)被設(shè)計成在所述檢測器單元(39)的不同子范圍中檢測所述第一光譜(64)和所述第二光譜(65)。

12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光譜儀裝置(10)，

所述光譜儀裝置(10)被設(shè)計成將所述第一光譜(64)和所述第二光譜(65)疊加到彼此上。