[發(fā)明專利]一種RF MEMS開關(guān)的制造和封裝方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010423106.8 | 申請日: | 2020-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN111533084A | 公開(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 卞經(jīng)緯 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫市伍豪機(jī)械設(shè)備有限公司 |
| 主分類號: | B81B7/02 | 分類號: | B81B7/02;B81C1/00 |
| 代理公司: | 無錫睿升知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32376 | 代理人: | 姬穎敏 |
| 地址: | 214161 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 rf mems 開關(guān) 制造 封裝 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種RF MEMS開關(guān)的制造和封裝方法,其特征在于,在基片上通過光刻、濕法腐蝕、濺射、干法刻蝕、陽極鍵合等工藝獲得RF MEMS開關(guān),然后通過對準(zhǔn)鍵合工藝對RF MEMS開關(guān)進(jìn)行封裝,獲得損耗低、密封性好的RF MEMS開關(guān)。本發(fā)明所述的RF MEMS開關(guān)具有損耗低、驅(qū)動電壓低、密封性好、隔離度高、屏蔽效果好的優(yōu)點,特別適用于微波、毫米通信、雷達(dá)等領(lǐng)域。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)領(lǐng)域,尤其涉及一種RF MEMS開關(guān)的制造和封裝方法。
背景技術(shù)
RF MEMS是MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))與RF(射頻)技術(shù)相結(jié)合的一門新技術(shù),MEMS器件具有體積小、易集成、可靠性高等優(yōu)點,可代替?zhèn)鹘y(tǒng)無線通信系統(tǒng)中的半導(dǎo)體器件。RF MEMS不僅可以以器件的方式應(yīng)用于電路,例如MEMS開關(guān)、MEMS電容、MEMS諧振器,還可以將單個器件集成到同一個芯片中組成組件和應(yīng)用系統(tǒng),例如濾波器、壓控振蕩器、移相器等,這大大縮減了傳統(tǒng)器件的體積,降低了功耗,提升了系統(tǒng)的性能。
RF MEMS開關(guān)是RF MEMS器件中的重要器件之一,其與傳統(tǒng)開關(guān)相比具有損耗低、功耗低、線性度好、尺寸小、易集成等優(yōu)勢,避免了傳統(tǒng)FET、pin開關(guān)帶來的歐姆損耗,克服了傳統(tǒng)外置分立元件帶來的體積大、功耗大和元件連線帶來的寄生影響。但是MEMS開關(guān)還是存在隔離度不夠高、驅(qū)動電壓較高、開關(guān)時間長、環(huán)境要求高、功率處理能力低的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種RF MEMS開關(guān)的制造和封裝方法,使制造的RF MEMS開關(guān)具有隔離度高、驅(qū)動電壓低、開關(guān)時間短、環(huán)境要求低、功率處理能力高等優(yōu)點。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
一種RF MEMS開關(guān)的制造和封裝方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)對硅基片進(jìn)行研磨、拋光,并使用溶液進(jìn)行超聲波清洗;
(2)對經(jīng)過步驟(1)的硅基片雙面熱氧化生長氧化層,即二氧化硅層;
(3)對經(jīng)過步驟(2)的硅基片進(jìn)行光刻,形成正面淺凹槽;
(4)對經(jīng)過步驟(3)光刻后的硅基片,以二氧化硅為掩膜,濕法腐蝕硅,形成硅槽圖形;
(5)對經(jīng)過步驟(4)刻蝕后的硅基片進(jìn)行去膠處理,去除掩膜;
(6)對經(jīng)過步驟(5)處理后的硅基片進(jìn)行光刻,磁控濺射鈦鎢/金,并采用lift-off工藝,剝離形成可動觸點圖形;
(7)對經(jīng)過步驟(6)濺射后的硅基片以二氧化硅和觸點金屬作為掩膜,ICP干法刻蝕硅25μm,形成觸點高度;
(8)對經(jīng)過步驟(7)處理后的硅基片正反面去除氧化層;
(9)對玻璃基片進(jìn)行光刻,磁控濺射鈦鎢/金,并采用lift-off工藝,在丙酮中剝離形成固定觸點圖形;
(10)對步驟(8)和步驟(9)中處理后的硅基片和玻璃基片進(jìn)行陽極鍵合;
(11)對步驟(10)鍵合后的硅基片進(jìn)行濕法減薄,形成結(jié)構(gòu)層;
(12)對步驟(11)中處理后的硅基片背部濺射金屬鋁,并光刻,濕法腐蝕鋁,形成彈簧粱和金屬電橋;
(13)對步驟(12)處理后的硅基片以鋁為掩膜,ICP刻蝕,釋放結(jié)構(gòu),得到RF MEMS開關(guān);
(14)對步驟(13)處理后的硅基片上沉積氮化硅層;
(15)選用硅片作為封裝蓋板材料,對硅片進(jìn)行清洗,去除雜質(zhì);
(16)對步驟(15)清洗后的硅片蓋板旋涂粘附劑,然后旋涂光敏BCB層,形成鍵合層;
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