[發(fā)明專利]一種適用于大電流高速信號測試的探針及連接器

有效

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• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111579836B
• 公開（公告）日: 2023-01-17
• 發(fā)明（設計）人: 陳前祎
• 申請（專利權）人: 武漢精毅通電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/04
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 張英

本發(fā)明公開了一種適用于大電流高速信號測試的探針及連接器，屬于信號傳輸及測試技術領域，其包括兩接觸部和至少一個彈性部，通過對應設置彈性部的有效橫截面積、橫向寬度、彈性部中帶狀彈性片的設置數量與寬度，對應改變彈性部的設置層數和導通路徑的長度，降低彈性部的導通電阻，為探針在大電流高速信號測試環(huán)境下的應提供了保證。本發(fā)明的適用于大電流高速信號測試的探針及連接器，其結構簡單，設置簡便，利用各部件的對應設置，能在實現探針兩接觸部可靠連接的基礎上，降低探針的導通電阻，為高速率信號的傳輸和大電流測試環(huán)境下的應用提供了可能，拓展了探針的應用范圍，降低了探針的應用成本，具有較好的應用前景和推廣價值。

技術領域

本發(fā)明屬于信號傳輸及測試技術領域，具體涉及一種適用于大電流高速信號測試的探針及連接器。

背景技術

在液晶面板、集成電路等電子部件模塊的制造工序中，往往需要進行導通檢測和動作特性檢查等過程，這通常需要使用探針將電子部件模塊的主體基板與FPC接觸電極對應連接，或者將基板的電極部與檢測裝置對應連接，進而完成相應的檢測工作。

目前，常用的探針具有能夠與電子部件的電極端子和被連接電子部件的電極端子分別接觸的一對觸頭，以及一對觸頭之間連接的彈性部。探針通過彈性部確保觸頭與電子部件的電極端子和被連接電子部件的電極端子之間的接觸壓力，提高針對電子部件的電極端子和被連接電子部件的電極端子的接觸可靠性。該彈性部的外形多為S形、蛇形，由直線部和彎曲部交替連接組成；并且為了較好的發(fā)揮彈性部的彈簧特性，該彎曲部的數量至少為兩個，因此彈性部的直線距離較長；由于測試過程中信號需要經過彈性部在兩個觸頭之間傳輸，彈性部的長度較長將導致信號傳輸路徑長，信號在傳輸過程中存在衰減嚴重，信號質量變差的風險，因此無法滿足高速信號傳輸的使用要求；此外，此類探針的導電電阻過大，會嚴重限制高速信號的傳輸速度。基于上述缺陷，目前常用的探針的最大過流能力小于2.5A，一般只能應用于信號傳輸速率不大于1.2Gbps的測試環(huán)境中。

發(fā)明內容

針對現有技術的以上缺陷或改進需求中的一種或者多種，本發(fā)明提供了一種適用于大電流高速信號測試的探針及連接器，可有效實現探針工作時兩接觸部與對應部件的抵緊，提升探針抵接連通的可靠性，并有效實現探針在高速信號傳輸、大電流作用環(huán)境下的應用。

為實現上述目的，本發(fā)明的一個方面，提供一種適用于大電流高速信號測試的探針，包括在探針縱向上間隔設置的第一接觸部和第二接觸部，其特征在于，還包括將兩接觸部對應連接的彈性部，各部件一體成型；

所述第一接觸部包括沿探針縱向延伸的第一支部和沿探針橫向延伸的第二支部，且所述第一支部背離所述第二支部的一端設置為觸點部；

所述第二接觸部為沿探針橫向延伸的板狀結構，其背離所述第一接觸部的一側設置有至少一個觸點部；

所述彈性部沿探針縱向彎曲延伸，其兩端分別連接所述第二支部和所述第二接觸部；且

所述彈性部設置為一個，其沿探針橫向的兩側分別設置有限位單元，所述限位單元用于所述第一接觸部橫向偏移的限位及縱向伸縮的導向；或者

所述彈性部為探針橫向上間隔設置的至少兩個。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述彈性部的設置數量為1～3個，且各所述彈性部的設置層數為3～6層。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述限位單元包括分別沿探針縱向延伸的至少兩個第一限位柱和至少兩個第二限位柱；

所述至少兩個第一限位柱連接在第二支部上且位于所述彈性部兩側，所述至少兩個第二限位柱連接在第二接觸部上且位于所述彈性部兩側，位于同側的上下兩限位柱以側壁抵接。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述探針導通路徑的最小有效橫截面積位于彈性部或者兩接觸部，且該最小有效橫截面積對應的寬度與探針寬度之間的比值介于1:200～1:10之間。