[發(fā)明專利]一種多類型充電線的斷線檢測(cè)電路及充電寶在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010421693.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-05-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111537915A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐堅(jiān);任素云;戴清明;尹志明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 惠州市藍(lán)微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/54 | 分類號(hào): | G01R31/54;G01R31/58;H02J7/00 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102 | 代理人: | 譚映華 |
| 地址: | 516000 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 類型 充電 斷線 檢測(cè) 電路 | ||
1.一種多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于,所述斷線檢測(cè)電路應(yīng)用于充電寶中,所述充電寶包括至少兩條充電線,所述充電線至少包括第一充電線及第二充電線,所述第一充電線包括電源輸出端口及協(xié)議端口,所述第二充電線包括電源輸出端口,所述電路包括:
檢測(cè)模塊,包括第一檢測(cè)模塊及第二檢測(cè)模塊;所述第一檢測(cè)模塊與所述第一充電線連接,所述第二檢測(cè)模塊與所述第二充電線連接;
所述第一檢測(cè)模塊包括與所述協(xié)議端口連接的多個(gè)檢測(cè)電阻,所述多個(gè)檢測(cè)電阻通過(guò)第一控制開(kāi)關(guān)與所述充電寶的VBUS輸出端口連接;所述檢測(cè)電阻及所述第一控制開(kāi)關(guān)之間與所述控制芯片的第一A/D檢測(cè)端連接;
所述第二檢測(cè)模塊包括至少一個(gè)上拉電阻以及第二控制開(kāi)關(guān);所述上拉電阻的一端與所述電源輸出端口的供電端連接,另一端經(jīng)所述第二控制開(kāi)關(guān)與控制芯片的第二A/D檢測(cè)端連接;所述第二A/D檢測(cè)端與所述第二控制開(kāi)關(guān)之間通過(guò)第一分壓電阻接地;
輸出模塊,包括第三控制開(kāi)關(guān),所述第三控制開(kāi)關(guān)連接于所述供電端以及所述充電寶的VBUS輸出端口之間;以及
控制芯片,包括控制端口;所述控制端口與所述第一控制開(kāi)關(guān)、第二控制開(kāi)關(guān)及第三控制開(kāi)關(guān)連接,以控制所述第一控制開(kāi)關(guān)、第二控制開(kāi)關(guān)及第三控制開(kāi)關(guān)的開(kāi)閉;所述控制芯片還包括上拉電平輸出端,所述上拉電平輸出端連接至所述供電端與所述第三控制開(kāi)關(guān)之間。
2.如權(quán)利要求1所述的多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于:
所述充電寶還包括第三充電線;
所述第一充電線包括第一電源輸出端口,所述第二充電線包括第二電源輸出端口,所述第三充電線包括第三電源輸出端口;
所述第二電源輸出端口通過(guò)第一上拉電阻與所述第二A/D檢測(cè)端連接,
所述第三電源輸出端口通過(guò)第二上拉電阻與所述第二A/D檢測(cè)端連接;
所述第一上拉電阻與所述第二上拉電阻并聯(lián)。
3.如權(quán)利要求2所述的多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于,所述第一上拉電阻的阻值與所述第二上拉電阻的阻值不同。
4.如權(quán)利要求1或2所述的多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于,所述協(xié)議端口包括DM端以及DP端,所述電源輸出端口包括供電端以及接地端;
所述第一檢測(cè)模塊,包括:
第一檢測(cè)電阻單元,兩端分別與所述供電端及接地端連接,并與所述協(xié)議端口的DM端連接;以及
第二檢測(cè)電阻單元,兩端分別與所述供電端及接地端連接,并與所述協(xié)議端口的DP端連接。
5.如權(quán)利要求4所述的多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于:
所述第一檢測(cè)電阻單元包括相互串聯(lián)的第一電阻及第二電阻,所述DM端連接在所述第一電阻與所述第二電阻之間;
所述第二檢測(cè)電阻單元包括相互串聯(lián)的第三電阻及第四電阻,所述DP端連接在所述第三電阻及第四電阻之間。
6.如權(quán)利要求1所述的多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于:
所述第一控制開(kāi)關(guān)包括:
第一MOS管,所述第一MOS管的源極與所述充電寶的VBUS端連接,所述第一MOS管的漏極與所述第一A/D檢測(cè)端連接,所述第一MOS管的柵極與所述第三控制開(kāi)關(guān)的一端連接;
所述控制芯片的控制端口包括第一控制端口,所述第一控制端口與所述第一MOS管的漏極連接。
7.如權(quán)利要求6所述的多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于:
所述第一控制端口與所述第一MOS管的漏極之間設(shè)有二極管,所述二極管的正極與所述第一控制端口連接,所述二極管的負(fù)極與所述第一MOS管的漏極連接。
8.如權(quán)利要求1所述的多類型充電線的斷線檢測(cè)電路,其特征在于:
所述第二控制開(kāi)關(guān)包括第二MOS管;
所述第二MOS管的源極與所述第一分壓電阻連接,所述第二MOS管的漏極與所述上拉電阻連接,所述第二MOS管的柵極與所述第三控制開(kāi)關(guān)連接,并與所述控制芯片的第二控制端口連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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