[發(fā)明專(zhuān)利]一種適用于大電流高速信號(hào)測(cè)試的探針及連接器

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010421261.6
• 申請(qǐng)日: 2020-05-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111579832A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-08-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳前祎
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 武漢精毅通電子技術(shù)有限公司;武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R1/067
• 分類(lèi)號(hào): G01R1/067;G01R1/04
• 代理公司: 武漢東喻專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 42224
• 代理人: 王聰聰

本發(fā)明公開(kāi)了一種適用于大電流高速信號(hào)測(cè)試的探針及連接器，該探針包括第一接觸部、彈性部、聯(lián)結(jié)部和第二接觸部；彈性部包括第一直線部、第一彎曲部和第二直線部；第一直線部沿與軸向方向垂直的方向上延伸且一端與第一接觸部的另一端連接；第二直線部沿與軸向方向垂直的方向上延伸且一端與聯(lián)結(jié)部連接；第一彎曲部為類(lèi)C形結(jié)構(gòu)，其一端部與第一直線部連接，另一端部與第二直線部連接；第一直線部、第二直線部之間的距離小于第一彎曲部沿軸向方向上的最大內(nèi)徑；聯(lián)結(jié)部沿軸向方向上延伸連接第二直線部和第二接觸部；本發(fā)明提供的探針可在增大橫截面積同時(shí)減小彈性部的彈力，防止探針及其接觸對(duì)象因過(guò)大的彈力/夾持力而發(fā)生損壞。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于信號(hào)傳輸及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種適用于高速率信號(hào)傳輸、大電流測(cè)試使用環(huán)境的測(cè)試設(shè)備上使用的彈性扁平探針及連接器。

背景技術(shù)

在液晶面板、集成電路等電子部件的制造工序中需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行導(dǎo)通檢測(cè)和動(dòng)作特性檢查，具體的檢測(cè)方法是使用探針將與電子部件模塊的主體基板連接的FPC接觸電極或所安裝的基板對(duì)基板連接器等電極部和檢查裝置連接起來(lái)，由此進(jìn)行這些檢測(cè)。

目前經(jīng)常用的探針具有能夠與電子部件的電極端子和被連接電子部件的電極端子分別接觸一對(duì)觸頭，以及一對(duì)觸頭之間連接的彈性部。探針通過(guò)彈性部確保觸頭與電子部件的電極端子和被連接電子部件的電極端子之間的接觸壓力，提高針對(duì)電子部件的電極端子和被連接電子部件的電極端子的接觸可靠性。除了接觸可靠性這一指標(biāo)之外，為了滿足高速、大電流信號(hào)傳輸?shù)氖褂靡螅筇结樀膶?dǎo)電電阻越小越好。

申請(qǐng)公布號(hào)CN111033273A的發(fā)明專(zhuān)利“探針、檢查工具、檢查單元和檢查裝置”，為了降低導(dǎo)通路徑的電阻，對(duì)導(dǎo)通路徑過(guò)長(zhǎng)的蛇形狀的彈性部進(jìn)行了改進(jìn)，根據(jù)說(shuō)明書(shū)0047段的記載，其通過(guò)削減彈性部的路徑的長(zhǎng)度并增大彈性部的路徑的截面面積的方式來(lái)降低兩個(gè)接觸部之間的導(dǎo)通路徑的電阻；毫無(wú)疑問(wèn)，該彈性部結(jié)構(gòu)確實(shí)能夠有效降低探針的電阻，但與此同時(shí)，增大彈性部的路徑的截面面積加之削減彈性部的路徑長(zhǎng)度將顯著提高彈性部的彈力，在使用過(guò)程中，為了保證被測(cè)對(duì)象物與探針接觸良好，配套的夾持結(jié)構(gòu)需要提供較大的夾持力，很有可能會(huì)壓壞被測(cè)對(duì)象。因此，在探針的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)過(guò)程中需要考慮彈性部的橫截面積(導(dǎo)電電阻)與其提供的彈力之間的相對(duì)平衡，在增大橫截面積以減小導(dǎo)電電阻提高過(guò)流能力的同時(shí)，減小彈性部的彈力，防止探針及其接觸對(duì)象因過(guò)大的彈力/夾持力而發(fā)生損壞。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的至少一個(gè)缺陷或改進(jìn)需求，本發(fā)明提供了一種適用于大電流高速信號(hào)測(cè)試的探針及連接器，其目的在于解決現(xiàn)有探針存在的增加橫截面積且減小導(dǎo)通路徑導(dǎo)致的探針彈力過(guò)大，容易損壞探針以及接觸對(duì)象的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種適用于大電流高速信號(hào)測(cè)試的探針，其包括第一接觸部、彈性部、聯(lián)結(jié)部和第二接觸部；

所述第一接觸部的一端具有可與被測(cè)對(duì)象物的接觸端子相匹配的第一觸點(diǎn)部；所述彈性部可在受力時(shí)沿著探針的軸向方向上變形，包括配置于所述軸向方向的同一側(cè)的第一直線部、第二彎曲部、第一彎曲部、第三彎曲部和第二直線部；

所述第一直線部沿與所述軸向方向垂直的方向上延伸且一端與所述第一接觸部的另一端連接；所述第二直線部沿與所述軸向方向垂直的方向上延伸且一端與所述聯(lián)結(jié)部連接；所述第一彎曲部為類(lèi)C形結(jié)構(gòu)，其一端部通過(guò)第二彎曲部與第一直線部的另一端連接，另一端部通過(guò)第三彎曲部與第二直線部的另一端連接；

第一直線部、第二直線部之間的距離小于第一彎曲部沿軸向方向上的最大內(nèi)徑，第二彎曲部、第一彎曲部、第三彎曲部的曲率中心依次交替配置于彈性部的不同側(cè)；

所述聯(lián)結(jié)部沿軸向方向上延伸，用于連接第二直線部和第二接觸部；所述第二接觸部配置于第二彈性部的另一端且具有至少一個(gè)第二觸點(diǎn)部。

總體而言，通過(guò)本發(fā)明所構(gòu)思的以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比，能夠取得下列有益效果：