[發明專利]一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具

有效

• 申請號: 202010420648.X
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111596154B
• 公開（公告）日: 2023-01-03
• 發明（設計）人: 張洪軍;李方喆;柯華;羅蕙佳代;曹璐;唐曉慧
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/12;G01R31/16;G01R29/22;G01R1/04
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 李紅媛

1.一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具由基座、上電極模塊、下電極模塊、接線模塊和加熱模塊組成；

所述的基座包括上蓋(1)和底座(2)，上蓋(1)與底座(2)為等徑的圓柱體，且材質均為絕緣體；

所述的底座(2)上端設有圓環狀凸臺，上蓋(1)的下端面開有與該圓環狀凸臺相配合的周向凹槽，圓環狀凸臺與周向凹槽構成密封結構；

所述的上電極模塊包括連桿固定座(5)、探針連桿(6)、探針固定環(7)和探針(8)，連桿固定座(5)、探針連桿(6)、探針固定環(7)和探針(8)的材質均為導體；所述的探針連桿(6)的一端與連桿固定座(5)連接，另一端上表面設有與探針固定環(7)同軸的通孔，探針(8)穿過探針連桿(6)和探針固定環(7)；

所述的探針連桿(6)與探針固定環(7)通過緊定螺釘固定連接；

所述的探針連桿(6)的一端與連桿固定座(5)連接形成搖桿結構，探針連桿(6)以連桿固定座(5)的固定處為圓心，繞其與連桿固定座(5)形成的豎直平面內做有限的圓周運動；

所述的下電極模塊包括底電極(3)和底電極延長柱(4)，底電極(3)和底電極延長柱(4)的材質均為導體；所述的底電極(3)由上圓盤和下圓柱組成，截面為T型，下圓柱的側面開設有凹槽，底電極延長柱(4)的一端設置在凹槽中，且與底電極(3)螺紋連接；

所述的接線模塊為接線座(10)，接線座(10)為圓柱體，接線座(10)上開設有軸向凹槽，接線座(10)的材質為導體；

所述的加熱模塊為陶瓷加熱體(9)，陶瓷加熱體(9)為環狀陶瓷加熱體；

所述的上蓋(1)下端面的周向凹槽側壁上開設有外側第一出線孔(100)和外側第二出線孔(102)，上蓋(1)下端面的周向凹槽上方開設有扇形槽，用于容納連桿固定座(5)、探針連桿(6)、探針固定環(7)和探針(8)；

所述的底座(2)上端的圓環狀凸臺的側壁上開設有內側第一出線孔(101)和內側第二出線孔(103)；上蓋(1)和底座(2)裝配時，外側第一出線孔(100)可與內側第一出線孔(101)對齊連通，外側第二出線孔(102)可與內側第二出線孔(103)對齊連通；底座(2)的外側壁及圓環狀凸臺內圓槽底部的下方開設有槽，底電極(3)設置在圓環狀凸臺內圓槽底部的下方槽中，底電極延長柱(4)設置在底座(2)外側壁的槽中，且底電極延長柱(4)延伸至底座(2)外部；底座(2)上端的圓環狀凸臺上端面開設有兩個槽，連桿固定座(5)和接線座(10)的下端均設置在槽中；

所述的陶瓷加熱體(9)設置在底座(2)上端圓環狀凸臺內的圓槽中，陶瓷加熱體(9)的內徑大于底電極(3)中上圓盤的直徑，且底電極(3)中上圓盤與陶瓷加熱體(9)的圓環同心。

2.根據權利要求1所述的一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于所述的探針固定環(7)與探針(8)之間為過盈配合或螺紋配合。

3.根據權利要求1所述的一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于所述的陶瓷加熱體(9)的工作電壓為5V或12V，在工作電壓下陶瓷加熱體(9)的表面溫度最高不超過250℃。

4.根據權利要求1所述的一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于所述的外側第一出線孔(100)與內側第一出線孔(101)對齊連通后形成熱電偶引線的通道，外側第二出線孔(102)與內側第二出線孔(103)對齊連通后形成導線與加熱模塊引線的通道。

5.根據權利要求1所述的一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于所述的探針(8)為棒狀導體，直徑為0.5mm～2mm；長度為19mm～24mm；質量為7mg～680mg。

6.根據權利要求1所述的一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于所述的探針(8)的材質為銅、鋁或碳纖維；觸點為平面或半球面。

7.根據權利要求1所述的一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于所述的探針(8)和底電極(3)對測試小試樣施加壓力為0N～10N。

8.根據權利要求1所述的一種測試小試樣變溫電性能的輔助夾具，其特征在于所述的測試小試樣的材質為玻璃、陶瓷或單晶。