[發明專利]一種判斷擬合曲線質量的測試方法在審
| 申請號: | 202010420144.8 | 申請日: | 2020-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN111667550A | 公開(公告)日: | 2020-09-15 |
| 發明(設計)人: | 劉家駿;田松坡;矯日華;薛光壇 | 申請(專利權)人: | 季華實驗室 |
| 主分類號: | G06T11/20 | 分類號: | G06T11/20 |
| 代理公司: | 佛山市海融科創知識產權代理事務所(普通合伙) 44377 | 代理人: | 陳志超;唐敏珊 |
| 地址: | 528200 廣東省佛山市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 判斷 擬合 曲線 質量 測試 方法 | ||
1.一種判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,具體包括以下步驟:
S1:對標準曲線的擬合多項式函數進行求解;
S2:將離散數據逐一代入標準曲線的多項式函數中,得到一次擬合曲線;
S3:將一次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和與閾值進行比較,若一次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和≥閾值,執行S4至S8,若一次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和閾值,執行S9;
S4:將設定標準曲線的擬合多項式函數的次數減一,根據所采集離散數據的可靠性合理去掉一個離散數據點后,將離散數據逐一代入設定標準曲線的擬合多項式函數后進行降次擬合,得到二次擬合曲線;
S5:將二次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和與閾值進行比較,若二次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和≥閾值,執行S6至S8,若二次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和閾值,執行S9;
S6:將離散數據采用B樣條函數進行擬合,得到三次擬合曲線;
S7:將三次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和與閾值進行比較,若三次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和≥閾值,執行S8,若三次擬合曲線在離散數據點處的差值平方和閾值,執行S9;
S8:輸出擬合錯誤提示;
S9:輸出擬合曲線。
2.根據權利要求1所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,所述S1包括以下過程:根據實際采集得到的離散數據點,設定標準曲線的擬合多項式函數,代入采集到的離散數據點計算出標準曲線的擬合多項式函數的各項未知系數,得到標準曲線的擬合多項式函數。
3.根據權利要求1所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,所述S2包括以下過程:將實際采集得到的離散數據點中的x坐標作為自變量代入到標準曲線的多項式函數中,得到對應的y值,從而得到一次擬合曲線。
4.根據權利要求1所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,所述S3包括以下過程:計算一次擬合曲線的各個點與采集得到的離散數據點的帶權值的差值平方,對各個差值平方求和,記為error 1;將error 1與閾值進行比較,若error 1≥閾值,執行S4,若error 1閾值,執行S9。
5.根據權利要求1所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,所述S4包括以下過程:將設定標準曲線的擬合多項式函數的次數減一,根據所采集離散數據的可靠性合理去掉一個離散數據點后,得到新的標準曲線的擬合多項式函數;將剩余的離散數據點中的x坐標作為自變量代入到標準曲線的多項式函數中,得到對應的y值,從而得到二次擬合曲線。
6.根據權利要求1所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,所述S5包括以下過程:計算二次擬合曲線的各個點與剩余的離散數據點的帶權值的差值平方,對各個差值平方求和,記為error 2;將error 2與閾值進行比較,若error 2≥閾值,執行S6,若error 2閾值,執行S9。
7.根據權利要求1所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,所述S6包括以下過程:將實際采集得到的離散數據點中的x坐標作為自變量代入到B樣條函數中,得到對應的y值,從而得到三次擬合曲線。
8.根據權利要求1所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,所述S7包括以下過程:計算三次擬合曲線的各個點與實際采集得到的離散數據點的帶權值的差值平方,對各個差值平方求和,記為error 3;將error 3與閾值進行比較,若error 3≥閾值,執行S8,若error 3閾值,執行S9。
9.根據權利要求1至8任一所述的判斷擬合曲線質量的測試方法,其特征在于,其中,所述閾值通過設置差值平方和計算得到。
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