[發(fā)明專利]反應(yīng)腔室泄漏監(jiān)測方法以及裝置、半導(dǎo)體設(shè)備系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010419574.8 | 申請日: | 2020-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN111579172B | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李相龍;李俊杰;李琳;王佳 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院微電子研究所;真芯(北京)半導(dǎo)體有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01M3/26 | 分類號: | G01M3/26;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京華沛德權(quán)律師事務(wù)所 11302 | 代理人: | 房德權(quán) |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反應(yīng) 泄漏 監(jiān)測 方法 以及 裝置 半導(dǎo)體設(shè)備 系統(tǒng) | ||
1.一種反應(yīng)腔室泄漏監(jiān)測方法,其特征在于,包括:
在將當(dāng)前晶圓送入反應(yīng)腔室之后,按照設(shè)定時長對所述反應(yīng)腔室抽真空;
檢測所述反應(yīng)腔室在抽真空結(jié)束時的壓力,獲得初始壓力值;
在所述當(dāng)前晶圓在所述反應(yīng)腔室中進行每個工藝步驟時,實時采集與所述反應(yīng)腔室連接的壓力閥的開度,獲得實時開度值,所述壓力閥用于調(diào)節(jié)所述反應(yīng)腔室的氣壓;
根據(jù)所述初始壓力值和所述實時開度值,確定所述反應(yīng)腔室是否發(fā)生泄漏;
所述根據(jù)所述初始壓力值和所述實時開度值,確定所述反應(yīng)腔室是否發(fā)生泄漏,包括:
根據(jù)所述初始壓力值和所述實時開度值計算監(jiān)測變量值;
判斷所述監(jiān)測變量值是否在預(yù)設(shè)標準范圍之內(nèi);
若所述監(jiān)測變量值不在所述預(yù)設(shè)標準范圍之內(nèi),則確定所述反應(yīng)腔室發(fā)生泄漏;
所述根據(jù)所述初始壓力值和所述實時開度值計算監(jiān)測變量值包括:
將所述初始壓力值放大預(yù)設(shè)倍數(shù),獲得第一變量值;
計算所述當(dāng)前晶圓在所述反應(yīng)腔室中進行第i個工藝步驟時所述壓力閥的實時開度值與開度參考值之差,獲得第二變量值,其中,所述開度參考值為所述反應(yīng)腔室未發(fā)生泄漏時M個參考晶圓分別在所述反應(yīng)腔室中進行第i個工藝步驟時所述壓力閥的開度平均值,1≤i≤N且i為整數(shù),M為所述參考晶圓的數(shù)量且M為不小于2的整數(shù),N為在所述反應(yīng)腔室中進行的工藝步驟的數(shù)量;
計算所述第一變量值和所述第二變量值之和,獲得所述監(jiān)測變量值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反應(yīng)腔室泄漏監(jiān)測方法,其特征在于,所述開度參考值通過以下步驟獲得:
在將所述參考晶圓送入所述反應(yīng)腔室之后,按照所述設(shè)定時長對所述反應(yīng)腔室抽真空;
在所述參考晶圓在所述反應(yīng)腔室中進行第i個工藝步驟時,實時采集所述壓力閥的開度,獲得所述參考晶圓在所述反應(yīng)腔室中進行第i個工藝步驟時所述壓力閥的實時開度值;
根據(jù)M個所述參考晶圓在所述反應(yīng)腔室中進行第i個工藝步驟時所述壓力閥的實時開度值,獲得所述開度參考值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反應(yīng)腔室泄漏監(jiān)測方法,其特征在于,在所述確定所述反應(yīng)腔室發(fā)生泄漏之后,還包括:
產(chǎn)生報警信號;和/或,
在所述當(dāng)前晶圓在所述反應(yīng)腔室中完成所有工藝步驟之后,將所述初始壓力值和所述實時開度值發(fā)送給校準設(shè)備。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反應(yīng)腔室泄漏監(jiān)測方法,其特征在于,所述按照設(shè)定時長對所述反應(yīng)腔室抽真空是在所述反應(yīng)腔室的倉門關(guān)閉之后且在將所述當(dāng)前晶圓放置在靜電卡盤上之前進行。
5.一種反應(yīng)腔室泄漏監(jiān)測裝置,其特征在于,包括:
真空系統(tǒng),用于在將當(dāng)前晶圓送入反應(yīng)腔室之后,按照設(shè)定時長對所述反應(yīng)腔室抽真空;
壓力傳感器,用于檢測所述反應(yīng)腔室在抽真空結(jié)束時的壓力,獲得初始壓力值;
開度傳感器,用于在所述當(dāng)前晶圓在所述反應(yīng)腔室中進行每個工藝步驟時,實時采集與所述反應(yīng)腔室連接的壓力閥的開度,獲得實時開度值,所述壓力閥用于調(diào)節(jié)所述反應(yīng)腔室的氣壓;
處理設(shè)備,用于根據(jù)所述初始壓力值和所述實時開度值,確定所述反應(yīng)腔室是否發(fā)生泄漏;
所述處理設(shè)備包括:
計算模塊,用于根據(jù)所述初始壓力值和所述實時開度值計算監(jiān)測變量值;
判斷模塊,用于判斷所述監(jiān)測變量值是否在預(yù)設(shè)標準范圍之內(nèi);
確定模塊,用于在所述監(jiān)測變量值不在所述預(yù)設(shè)標準范圍之內(nèi)時,確定所述反應(yīng)腔室發(fā)生泄漏;
所述計算模塊包括:
放大模塊,用于將所述初始壓力值放大預(yù)設(shè)倍數(shù),獲得第一變量值;
求差模塊,用于計算所述當(dāng)前晶圓在所述反應(yīng)腔室中進行第i個工藝步驟時所述壓力閥的實時開度值與開度參考值之差,獲得第二變量值,其中,所述開度參考值為所述反應(yīng)腔室未發(fā)生泄漏時M個參考晶圓分別在所述反應(yīng)腔室中進行第i個工藝步驟時所述壓力閥的開度平均值,1≤i≤N且i為整數(shù),M為所述參考晶圓的數(shù)量且M為不小于2的整數(shù),N為在所述反應(yīng)腔室中進行的工藝步驟的數(shù)量;
求和模塊,用于計算所述第一變量值和所述第二變量值之和,獲得所述監(jiān)測變量值。
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