[發明專利]一種地下介質極化信息的獲取方法及獲取系統

在審

• 申請號: 202010418696.5
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111812719A
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 岳明鑫;吳小平;楊曉冬;周官群
• 申請（專利權）人: 中國科學技術大學
• 主分類號: G01V3/08
• 分類號: G01V3/08;G01V3/38
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱宗力

1.一種地下介質極化信息的獲取方法，其特征在于，包括：

獲取預設空間內的第一磁場的磁場參數和第二磁場的磁場參數，所述第一磁場和第二磁場的頻率不同；

對所述第一磁場的磁場參數進行分解，以獲得所述第一磁場的二次磁場參數；

對所述第二磁場的磁場參數進行分解，以獲得所述第二磁場的二次磁場參數；

根據所述第一磁場的二次磁場參數和所述第二磁場的二次磁場參數，計算地下介質的激發極化信息。

2.根據權利要求1所述的地下介質極化信息的獲取方法，其特征在于，所述根據所述第一磁場的二次磁場參數和所述第二磁場的二次磁場參數，計算地下介質的激發極化信息包括：

將所述第一磁場的二次磁場參數和所述第二磁場的二次磁場參數代入第一預設公式中，以計算獲得地下介質的激發極化信息；

所述第一預設公式包括：其中，DIP表示所述地下介質的激發極化信息，B_s(f₁)表示第一磁場的二次磁場參數，Imag[B_s(f₁)]表示所述第一磁場的二次磁場參數的虛部，B_s(f₂)表示所述第二磁場的二次磁場參數，Imag[B_s(f₂)]表示所述第二磁場的二次磁場參數的虛部，f表示所述第一磁場的頻率，f₂表示所述第二磁場的頻率。

3.根據權利要求1所述的地下介質極化信息的獲取方法，其特征在于，獲取預設空間內的第一磁場的磁場參數和第二磁場的磁場參數包括：

在所述預設空間內，利用發射線圈發射第一磁力線，以使第一磁力線與所述地下介質作用產生第一磁場，并利用接收線圈接收所述第一磁場的磁場參數；

在所述預設空間內，利用所述發射線圈發射第二磁力線，以使所述第二磁力線與所述地下介質作用產生第二磁場，并利用所述接收線圈接收所述第二磁場的磁場參數。

4.根據權利要求1所述的地下介質極化信息的獲取方法，其特征在于，所述對所述第一磁場的磁場參數進行分解，以獲得所述第一磁場的二次磁場參數包括：

將所述第一磁場的磁場參數分解為第一磁場的一次磁場和所述第一磁場的二次磁場，以使所述第一磁場的一次磁場與所述第一磁場的二次磁場的和等于所述第一磁場的磁場參數。

5.根據權利要求1所述的地下介質極化信息的獲取方法，其特征在于，所述對所述第二磁場的磁場參數進行分別，以獲得所述第二磁場的二次磁場參數包括：

將所述第二磁場的磁場參數分解為第二磁場的一次磁場和所述第二磁場的二次磁場，以使所述第二磁場的一次磁場與所述第二磁場的二次磁場的和等于所述第二磁場的磁場參數。

6.一種地下介質極化信息的獲取系統，其特征在于，包括：發射線圈、接收線圈和處理模塊；其中，

所述處理模塊用于利用所述發射線圈和所述接收線圈，獲取預設空間內的第一磁場的磁場參數和第二磁場的磁場參數，所述第一磁場和第二磁場的頻率不同，并對所述第一磁場的磁場參數進行分解，以獲得所述第一磁場的二次磁場參數，對所述第二磁場的磁場參數進行分解，以獲得所述第二磁場的二次磁場參數，和用于對根據所述第一磁場的二次磁場參數和所述第二磁場的二次磁場參數，計算地下介質的激發極化信息。

7.根據權利要求6所述的地下介質極化信息的獲取系統，其特征在于，所述處理模塊用于利用所述發射線圈和所述接收線圈，獲取預設空間內的第一磁場的磁場參數和第二磁場的磁場參數具體用于，在所述預設空間內，利用發射線圈發射第一磁力線，以使第一磁力線與所述地下介質作用產生第一磁場，并利用接收線圈接收所述第一磁場的磁場參數；

在所述預設空間內，利用所述發射線圈發射第二磁力線，以使所述第二磁力線與所述地下介質作用產生第二磁場，并利用所述接收線圈接收所述第二磁場的磁場參數。