[發明專利]一種無上偏光膜半導體顯示面板的顯示缺陷修復方法

有效

• 申請號: 202010417829.7
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111580290B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 劉欣;王馨瑩;王福旺;孟鵬飛;張亞輝;李立鋒;林濤
• 申請（專利權）人: 北京兆維科技開發有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1335;G02B27/28
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 李昆蔚

1.一種無上偏光膜半導體顯示面板的顯示缺陷修復方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1：備樣：點亮具有點缺陷區的顯示面板；

S2、測量：測量步驟S1所述點缺陷區偏離正常區偏振狀態所需補正的光學相位差；所述光學相位差通過測量所述顯示面板的正常像素點和缺陷像素點的透光偏振態來確定；

所述透光偏振態通過如下步驟得到：

S21：先設置所述顯示面板為全黑畫面，通過旋轉檢偏器分別測得所述缺陷像素點和所述正常像素點透過光場的橢偏特性；

S22：使所述檢偏器保持在所述光場的橢偏長軸方向，在所述顯示面板和所述檢偏器之間插入四分之一波片，使所述波片的快軸與所述長軸方向重合；

S23：旋轉所述檢偏器，透過所述檢偏器的光場達到最大值時，根據所述檢偏器的位置，測得所述波片之前光場的偏振旋向；

S3、修復：以步驟S2所述光學相位差，將飛秒脈沖激光聚焦在所述顯示面板的玻璃透光基板內，在所述點缺陷區對應的所述玻璃透光基板內掃描，局部改性加工得到雙折射納米光柵結構；所述掃描的掃描方向與所述飛秒脈沖激光的偏振方向夾角設置；所述掃描方向與所述飛秒脈沖激光的偏振方向平行或垂直；所述飛秒脈沖激光的寬度范圍為10～500fs，波長為400～1100nm，重復頻率為0.1～200kHz，單脈沖能量為0.01～50μJ；

S4、復測：設置滿足修復效果的修復條件，檢測步驟S3所述雙折射納米光柵結構的光學特性參數，判斷所述光學特性參數是否滿足所述修復條件，若否，進行二次修復。

2.根據權利要求1所述的一種無上偏光膜半導體顯示面板的顯示缺陷修復方法，其特征在于，步驟S3中，所述掃描的掃描方式為樣品掃描或光束掃描。

3.根據權利要求1所述的一種無上偏光膜半導體顯示面板的顯示缺陷修復方法，其特征在于，所述透光偏振態通過正交偏光顯微鏡測量。

4.根據權利要求1所述的一種無上偏光膜半導體顯示面板的顯示缺陷修復方法，其特征在于，步驟S3中，所述雙折射納米光柵結構為單層或疊加的多層。

5.根據權利要求1所述的一種無上偏光膜半導體顯示面板的顯示缺陷修復方法，其特征在于，步驟S4中，所述二次修復為通過所述飛秒脈沖激光改變所述雙折射納米光柵結構的光學取向或通過所述飛秒脈沖激光將所述雙折射納米光柵結構擦除重寫。