[發明專利]記憶體裝置以及運作方法有效
| 申請號: | 202010417279.9 | 申請日: | 2020-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN111459850B | 公開(公告)日: | 2023-08-15 |
| 發明(設計)人: | 王建群;徐成宇 | 申請(專利權)人: | 北京時代全芯存儲技術股份有限公司;江蘇時代芯存半導體有限公司 |
| 主分類號: | G06F12/02 | 分類號: | G06F12/02 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 記憶體 裝置 以及 運作 方法 | ||
一種記憶體裝置以及運作方法,運作方法應用于一記憶體裝置。記憶體裝置包含復數記憶體區塊。運作方法包含:通過一處理器利用一第一耗損平均程序對該些記憶體區塊執行區塊內耗損平均;以及通過處理器利用一第二耗損平均程序對該些記憶體區塊執行區塊間耗損平均。借此,可更有效地平均各記憶體區塊的耗損。
技術領域
本揭示中所述實施例內容是有關于一種記憶體技術,特別關于一種記憶體裝置以及運作方法。
背景技術
隨著記憶體技術的發展,記憶體裝置已被應用在各種電子設備當中。一般而言,記憶體裝置中包含多個記憶體區塊(tile)。當該些記憶體區塊的存取次數差異越大時,將對記憶體裝置造成負面影響。
發明內容
本揭示的一些實施方式是關于一種運作方法。運作方法應用于一記憶體裝置。記憶體裝置包含復數記憶體區塊。運作方法包含:通過一處理器利用一第一耗損平均程序對該些記憶體區塊執行區塊內耗損平均;以及通過處理器利用一第二耗損平均程序對該些記憶體區塊執行區塊間耗損平均。
在一些實施例中,第一耗損平均程序為一靜態耗損平均程序,且第二耗損平均程序為一動態耗損平均程序。
在一些實施例中,當靜態耗損平均程序執行完畢后,動態耗損平均程序持續執行。
在一些實施例中,靜態耗損平均程序是對記憶體區塊中的一者的一列執行耗損平均。
在一些實施例中,記憶體裝置包含一相變化記憶體。
本揭示的一些實施方式是關于一種運作方法。運作方法用以執行一動態耗損平均程序。運作方法包含:通過一處理器計算一記憶體裝置中復數初始地址的復數第一讀寫機率;通過處理器依據該些第一讀寫機率產生一轉換函數;以及通過處理器基于該轉換函數產生復數重分配地址,其中該些重分配地址分別具有復數第二讀寫機率,其中該些第二讀寫機率的變化度小于該些第一讀寫機率的變化度。
在一些實施例中,運作方法還包含:通過處理器依據該些第二讀寫機率計算一累積質量函數。
在一些實施例中,轉換函數儲存于一查找表。運作方法還包含:通過處理器依據累積質量函數更新查找表中的轉換函數。
在一些實施例中,運作方法還包含:若累積質量函數滿足一條件,通過處理器更新用以計算該些第一讀寫機率的一計數器,且重新搜集該些初始地址的存取次數數據。
在一些實施例中,條件為累積質量函數的線性度小于一門檻值。
本揭示的一些實施方式是關于一種記憶體裝置。記憶體裝置包含一處理器、復數記憶體區塊、至少一主總線以及至少一區塊間總線。至少一主總線設置于該些記憶體區塊之間。至少一區塊間總線設置于該些記憶體區塊之間。處理器透過該至少一區塊間總線對該些記憶體區塊執行區塊內耗損平均。
在一些實施例中,區塊內耗損平均是對記憶體區塊中的一者的一列執行耗損平均。
在一些實施例中,當區塊內耗損平均執行完畢后,處理器執行區塊間耗損平均。
在一些實施例中,記憶體裝置包含一相變化記憶體。
在一些實施例中,處理器透過該至少一區塊間總線對該些記憶體區塊執行區塊間耗損平均。
在一些實施例中,處理器計算記憶體裝置中復數初始地址的復數第一讀寫機率,處理器依據該些第一讀寫機率產生一轉換函數,且處理器基于轉換函數產生復數重分配地址。該些重分配地址分別具有復數第二讀寫機率。該些第二讀寫機率的變化度小于該些第一讀寫機率的變化度。
在一些實施例中,處理器依據該些第二讀寫機率計算一累積質量函數。
在一些實施例中,轉換函數儲存于一查找表。處理器依據累積質量函數更新查找表中的轉換函數。
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