[發(fā)明專利]一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010417242.6
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111579964A
• 公開（公告）日: 2020-08-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫文檠
• 申請（專利權(quán)）人: 馬鞍山芯?？萍加邢薰?/a>
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 鹽城平易安通知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32448
• 代理人: 陳彩芳

1.一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：包括底板（1），所述底板（1）的頂部設(shè)有第一支撐板（2），所述第一支撐板（2）的底部與底板（1）的頂部固定連接，所述底板（1）的上方設(shè)有頂板（3），所述頂板（3）的一側(cè)與第一支撐板（2）的一側(cè)固定連接，所述頂板（3）的底部設(shè)有芯片測試探針（4），所述芯片測試探針（4）與第一支撐板（2）之間設(shè)有調(diào)節(jié)組件，所述底板（1）的底部固定連接有若干支撐腿（5），所述支撐腿（5）的底部固定連接有固定板（6），所述底板（1）和芯片測試探針（4）之間設(shè)有測試板（7），所述測試板（7）與底板（1）之間設(shè)有升降組件，所述測試板（7）上設(shè)有限位機(jī)構(gòu)，所述限位機(jī)構(gòu)包括開設(shè)于測試板（7）頂部的凹槽（8），所述凹槽（8）內(nèi)設(shè)有滑板（9），所述凹槽（8）內(nèi)設(shè)有與滑板（9）相配合的驅(qū)動組件，所述滑板（9）的頂部固定連接有兩個第二支撐板（10），兩個所述第二支撐板（10）相靠近的一側(cè)均設(shè)有夾板（11），所述夾板（11）與第二支撐板（10）通過若干彈簧（33）連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：所述調(diào)節(jié)組件包括開設(shè)于第一支撐板（2）一側(cè)的第一螺紋孔（12），所述第一螺紋孔（12）內(nèi)設(shè)有第一絲桿（13），所述第一支撐板（2）遠(yuǎn)離芯片測試探針（4）的一側(cè)設(shè)有旋轉(zhuǎn)塊（17），所述第一絲桿（13）的一端與旋轉(zhuǎn)塊（17）固定連接，所述第一絲桿（13）的另一端與芯片測試探針（4）通過第一軸承（16）連接，所述頂板（3）的底部開設(shè)有第一滑槽（14），所述第一滑槽（14）內(nèi)設(shè)有第一滑塊（15），所述第一滑塊（15）的底部與芯片測試探針（4）的頂部固定連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：所述第一滑槽（14）和第一滑塊（15）的橫截面均為T形結(jié)構(gòu)，所述旋轉(zhuǎn)塊（17）的底部固定連接有第一握把（18）。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：所述升降組件包括開設(shè)于底板（1）頂部的第二螺紋孔（19），所述第二螺紋孔（19）內(nèi)設(shè)有第二絲桿（20），所述第二絲桿（20）的頂部與測試板（7）的底部通過第二軸承（21）連接，所述第二絲桿（20）的底部與位于底板（1）下方的第一轉(zhuǎn)盤（22）固定連接，所述底板（1）的頂部固定連接有兩個套管（24），所述套管（24）內(nèi)設(shè)有限位桿（25），所述限位桿（25）的頂端延伸至套管（24）的外部，且所述限位桿（25）的頂部與測試板（7）的底部固定連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：所述第一轉(zhuǎn)盤（22）的一側(cè)固定連接有第二握把（23）。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：所述驅(qū)動組件包括開設(shè)于滑板（9）一側(cè)的第三螺紋孔（26），所述第三螺紋孔（26）內(nèi)設(shè)有第三絲桿（27），所述第三絲桿（27）的一端與凹槽（8）的一側(cè)內(nèi)壁通過第三軸承（28）連接，所述第三絲桿（27）的另一端與位于測試板（7）一側(cè)的第二轉(zhuǎn)盤（29）固定連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：所述凹槽（8）的底部內(nèi)壁開設(shè)有第二滑槽（31），所述第二滑槽（31）內(nèi)設(shè)有第二滑塊（32），所述第二滑塊（32）的頂部與滑板（9）的底部固定連接，所述第二轉(zhuǎn)盤（29）遠(yuǎn)離測試板（7）的一側(cè)固定連接有手柄（30）。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：所述滑板（9）的頂部開設(shè)有第三滑槽（34），所述第三滑槽（34）內(nèi)設(shè)有第三滑塊（35），所述第三滑塊（35）的頂部與夾板（11）的底部固定連接，所述第三滑槽（34）和第三滑塊（35）的橫截面均為T形結(jié)構(gòu)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶限位結(jié)構(gòu)的芯片測試裝置，其特征在于：兩個所述夾板（11）相靠近的一側(cè)均固定連接有防滑墊（36）。