[發(fā)明專利]二維材料基選通器、存儲(chǔ)器單元、陣列及其操作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010416854.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-05-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111554809A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林淮;邢國(guó)忠;劉明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L43/08 | 分類號(hào): | H01L43/08;H01L27/22;G11C11/16 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 喻穎 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二維 材料 基選通器 存儲(chǔ)器 單元 陣列 及其 操作方法 | ||
1.一種二維材料基選通器,其特征在于,包括:
疊層單元,所述疊層單元為金屬-二維半導(dǎo)體-金屬結(jié)構(gòu),所述金屬-二維半導(dǎo)體-金屬結(jié)構(gòu)包括:二維半導(dǎo)體層,以及分別設(shè)置于所述二維半導(dǎo)體層上、下表面的金屬層;
其中,在所述二維材料基選通器通電導(dǎo)通時(shí),所述疊層單元包括兩個(gè)反向串聯(lián)的肖特基二極管結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二維材料基選通器,其特征在于,所述二維材料基選通器包括N個(gè)疊層單元,N≥1,當(dāng)N≥2時(shí),至少兩個(gè)疊層單元沿著第一方向堆疊,所述第一方向垂直于所述二維半導(dǎo)體材料層所在平面。
3.一種二維材料基選通器,其特征在于,包括:
M個(gè)疊層單元,M≥2,每個(gè)疊層單元為金屬-二維半導(dǎo)體-金屬結(jié)構(gòu),所述金屬-二維半導(dǎo)體-金屬結(jié)構(gòu)包括:二維半導(dǎo)體層,以及分別設(shè)置于所述二維半導(dǎo)體層上、下表面的金屬層;
其中,每個(gè)疊層單元中,其中一個(gè)金屬-二維半導(dǎo)體界面形成歐姆接觸,另一個(gè)金屬-二維半導(dǎo)體界面形成肖特基接觸;
所述M個(gè)疊層單元沿著第二方向排布,所述第二方向平行于所述二維半導(dǎo)體層所在平面,在所述M個(gè)疊層單元中相鄰的兩個(gè)疊層單元的側(cè)壁之間設(shè)置有絕緣層,在所述二維材料基選通器通電導(dǎo)通時(shí)所述M個(gè)疊層單元為M個(gè)反向并聯(lián)的肖特基二極管結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二維材料基選通器,其特征在于,
所述二維半導(dǎo)體層的材料包括以下材料中的一種或其組合:WS2、WSe2、MoS2;和/或,
二維半導(dǎo)體層的厚度為2nm-10nm;和/或,
所述金屬層的材料為以下材料:Pt、Ta、W、Ir、Os、Re、Hf、Pd、Rh、Mo、Nb、Zr、Au、Tc、Cd、Pb以及Sn中的一種形成的單質(zhì)或幾種形成的合金。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的二維材料基選通器,其特征在于,所述二維材料基選通器的伏安特性曲線為對(duì)稱的,具有雙向?qū)ㄩ_(kāi)關(guān)特性。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二維材料基選通器,其特征在于,
所述二維材料基選通器的開(kāi)啟電壓為0.8V~1.2V;和/或,
所述二維材料基選通器的開(kāi)關(guān)比不小于103;和/或,
所述二維材料基選通器的開(kāi)啟電流密度不小于106A/cm2。
7.一種存儲(chǔ)器單元,其特征在于,包括:
權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的二維材料基選通器;以及
磁隧道結(jié);
其中,所述二維材料基選通器與所述磁隧道結(jié)沿著第一方向堆疊以形成選擇存儲(chǔ)單元,所述選擇存儲(chǔ)單元包括沿著所述第一方向相對(duì)設(shè)置的第一表面和第二表面,所述第一表面用于與字線連接,所述第二表面用于與位線連接;
可選的,沿著所述第一方向,所述二維材料基選通器位于所述磁隧道結(jié)的上方或者下方。
8.一種存儲(chǔ)器陣列,其特征在于,所述存儲(chǔ)器陣列包括:
至少一層交叉存儲(chǔ)陣列,每層交叉存儲(chǔ)陣列包括:
位線陣列,包括沿著第二方向平行設(shè)置的多條位線;
字線陣列,包括沿著第三方向平行設(shè)置的多條字線;其中所述第三方向與所述第一方向垂直,所述第三方向與所述第二方向之間具有夾角;
設(shè)置于所述字線陣列和所述位線陣列交叉點(diǎn)處的多個(gè)存儲(chǔ)器單元,所述多個(gè)存儲(chǔ)器單元中每個(gè)存儲(chǔ)器單元為權(quán)利要求7所述的存儲(chǔ)器單元;
可選的,所述存儲(chǔ)器陣列還包括:選擇晶體管,所述選擇晶體管串聯(lián)于所述每層交叉存儲(chǔ)陣列的多條字線的每條字線上,用于控制所對(duì)應(yīng)字線的通斷;
可選的,當(dāng)所述存儲(chǔ)器陣列包括多層交叉存儲(chǔ)陣列時(shí),多層交叉存儲(chǔ)陣列中相鄰的兩層交叉存儲(chǔ)陣列之間設(shè)置有絕緣層。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院微電子研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院微電子研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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