[發(fā)明專利]一種用于零件表面缺陷快速檢測的樣板

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• 申請日: 2020-05-15
• 公開（公告）號: CN111536850A
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發(fā)明（設計）人: 周力;陳俊佑;王銳;蔡懷陽;楊揚;周益星;緱建杰
• 申請（專利權(quán)）人: 成都飛機工業(yè)（集團）有限責任公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/02;G01B5/08
• 代理公司: 成都君合集專利代理事務所(普通合伙) 51228
• 代理人: 尹玉

本發(fā)明公開了一種用于零件表面缺陷快速檢測的樣板，包括圓形、正方形、長方形的缺陷檢測區(qū)域，所述樣板的尺寸公差為零件缺陷檢測要求公差帶的1/10?1/4。本發(fā)明解決了表面缺陷傳統(tǒng)檢測工具存在的測量過程復雜、測量結(jié)果不準確及現(xiàn)有精密光學測量設備測量效率低的問題。可以實現(xiàn)表面缺陷是否滿足產(chǎn)品技術要求的快速判斷，提高檢測效率。

技術領域

本發(fā)明屬于航空產(chǎn)品快速檢驗樣板的技術領域，具體涉及一種用于零件表面缺陷快速檢測的樣板。

背景技術

飛機在生產(chǎn)制造過程中，涉及大量零件的裝配與處理、裝配部件的再裝配、標準成品的安裝和集成等，這些零部件存在周轉(zhuǎn)次數(shù)多、安裝和組裝工序多、測試與檢測過程多等特點，導致在制造裝配中，零部件表面產(chǎn)生大量擦傷、劃傷、碰傷、凹痕等表面缺陷。這些缺陷如不及時檢測并處理，后續(xù)降低飛機性能，影響飛機使用和壽命。

傳統(tǒng)表面缺陷尺寸檢測主要是通過軟尺、游標卡尺等工具實現(xiàn)，但由于實際產(chǎn)生的表面缺陷形狀不規(guī)則、大小不統(tǒng)一，傳統(tǒng)檢測儀器存在測量過程復雜、測量效率低、測量結(jié)果不準確等問題。

目前針對這些問題，雖有精密的光學測量設備可以實現(xiàn)表面缺陷的精確測量，但這些設備對測量環(huán)境、測量人員都有較高的要求，且測量范圍有限、測量效率低。這些問題使得飛機表面缺陷的檢測嚴重影響了飛機的研制生產(chǎn)進度和周期。針對這些問題，尚未出現(xiàn)有效的解決方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種用于零件表面缺陷快速檢測的樣板，旨在解決表面缺陷傳統(tǒng)檢測工具存在的測量過程復雜、測量結(jié)果不準確及現(xiàn)有精密光學測量設備測量效率低的問題。

本發(fā)明主要通過以下技術方案實現(xiàn)：一種用于零件表面缺陷快速檢測的樣板，包括圓形、正方形、長方形的缺陷檢測區(qū)域，所述樣板的尺寸公差為零件缺陷檢測要求公差帶的1/10-1/4。

為了更好地實現(xiàn)本發(fā)明，進一步的，所述樣板上依次分別設置有若干個尺寸依次漸變的圓形、正方形、長方形的缺陷檢測區(qū)域，且圓形、正方形、長方形的缺陷檢測區(qū)域分別包括與待檢測表面缺陷要求最大和最小尺寸的圓形、正方形、長方形。

所述樣板上設置有若干個圓形、正方形、長方形的缺陷檢測區(qū)域，且包括與待檢測表面缺陷要求最大和最小尺寸相同的圓形、正方形、長方形。即所述樣板上設置有若干個尺寸不一的圓形的缺陷檢測區(qū)域，且尺寸由小至大依次排列，其中包括與待檢測表面缺陷要求最大和最小尺寸相同的圓形。所述樣板上設置有若干個尺寸不一的正方形的缺陷檢測區(qū)域，且尺寸由小至大依次排列，其中包括與待檢測表面缺陷要求最大和最小尺寸相同的正方形。所述樣板上設置有若干個尺寸不一的長方形的缺陷檢測區(qū)域，且尺寸由小至大依次排列，其中包括與待檢測表面缺陷要求最大和最小尺寸相同的長方形。

為了更好地實現(xiàn)本發(fā)明，進一步的，所述圓形的缺陷檢測區(qū)域的圓孔直徑包括與待檢測表面缺陷要求最大和最小孔徑相同的最小孔徑Φmin、最大孔徑Φmax；

為檢測方便，同時準確估計表面缺陷尺寸范圍，在Φ_min與Φ_max之間設置有k個圓孔，且圓孔的直徑分別為Φ₁，Φ₂，Φ₃，…，Φ_k；且滿足以下條件：

Φ₁=Φ_min+(Φ_max-Φ_min)/(k+1)，

Φ₂=Φ_min+(Φ_max-Φ_min)/(k+1)*2，

…

Φ_k=Φ_min+(Φ_max-Φ_min)/(k+1)*k。