[發明專利]一種超低溫增強拉曼光譜信號的檢測方法及應用

有效

• 申請號: 202010413729.7
• 申請日: 2020-05-15
• 公開（公告）號: CN111579543B
• 公開（公告）日: 2023-06-30
• 發明（設計）人: 林杰;吳愛國
• 申請（專利權）人: 中國科學院寧波工業技術研究院慈溪生物醫學工程研究所;中國科學院寧波材料技術與工程研究所
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65
• 代理公司: 北京元周律知識產權代理有限公司 11540
• 代理人: 楊曉云

1.一種超低溫增強拉曼光譜信號的檢測方法，其特征在于，將待檢測物質吸附在表面增強拉曼光譜基底上，在0.1~287K條件下，對所述待檢測物質進行激光拉曼光譜測試；

其中，所述表面增強拉曼光譜基底為半導體納米粒子；

所述半導體納米粒子包括金屬氧化物納米粒子，所述金屬氧化物納米粒子具有表面缺陷；

所述表面缺陷包括陽離子缺陷和陰離子缺陷。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述金屬氧化物納米粒子選自過渡金屬氧化物納米粒子中的任一種；

所述過渡金屬氧化物納米粒子為晶體狀。

3.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述過渡金屬氧化物納米粒子選自Fe₃O₄納米粒子、Mn₃O₄納米粒子、TiO₂納米粒子、Fe₂O₃納米粒子、Gd₂O₃納米粒子、ZnO納米粒子、CoO納米粒子、Cu₂O納米粒子、NiO納米粒子、Cr₂O₃納米粒子、SnO₂納米粒子、Al₂O₃納米粒子中的至少一種。

4.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述金屬氧化物納米粒子的粒徑為0.1nm~1000nm。

5.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述金屬氧化物納米粒子的形貌選自片層狀、四面體狀、六面體狀、八面體狀、十二面體狀、空心籠狀、圓顆粒狀、棒狀中的任一種。

6.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述金屬氧化物納米粒子在0.1~287K條件下的表面缺陷的發光峰強度，相較于所述金屬氧化物納米粒子在293~303K條件下的表面缺陷的發光峰強度增強。

7.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述待檢測物質在0.1~287K條件下的拉曼光譜峰的強度，相較于所述待檢測物質在293~303K條件下的拉曼光譜峰的強度增強。

8.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于，所述待檢測物質包括無機物、有機分子中的任一種。

9.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，在所述激光拉曼光譜測試中，所使用的激發光波長選自488nm、514nm、532nm、633nm、647nm或785nm。

10.權利要求1至9任一項所述的超低溫增強拉曼光譜信號的檢測方法在材料科學檢測、分子檢測、食品檢測、生物分析檢測、細胞成像中的應用。