[發(fā)明專利]基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010413467.4 | 申請日: | 2020-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN111561313B | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 譚茂金;白洋;張海濤;李高仁 | 申請(專利權(quán))人: | 中國地質(zhì)大學(xué)(北京) |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;G01V11/00 |
| 代理公司: | 北京興智翔達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11768 | 代理人: | 蔣常雪 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 物理 模型 機器 學(xué)習(xí) 致密 砂巖 參數(shù) 預(yù)測 方法 | ||
1.基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法,其特征在于:包括以下步驟:
A.建立儲層參數(shù)的物理模型;
B.建立委員會機器;所述委員會機器由反向傳播神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、極限學(xué)習(xí)機、小波神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)三個專家網(wǎng)絡(luò)的全部或任意組合構(gòu)成;
C.將測井?dāng)?shù)據(jù)及對應(yīng)的所述物理模型共同輸入至所述委員會機器;
D.所述委員會機器對儲層參數(shù)進行預(yù)測;
E.根據(jù)加權(quán)求和法得到所述委員會機器預(yù)測結(jié)果:
式中,yCM為所述委員會機器預(yù)測結(jié)果;N是訓(xùn)練數(shù)據(jù)數(shù)量;wj為反向傳播神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、極限學(xué)習(xí)機、小波神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)三個專家網(wǎng)絡(luò)的加權(quán)因子;bj為第j個專家網(wǎng)絡(luò)的預(yù)測值。
2.如權(quán)利要求1所述的基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法,其特征在于:所述步驟A中,儲層參數(shù)的物理模型包括:孔隙度模型,滲透率模型和含水飽和度模型。
3.如權(quán)利要求2所述的基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法,其特征在于:孔隙度φ的計算模型如下:
式中,φA為聲波孔隙度;Δtma為致密砂巖骨架的聲波時差;Δtf為泥漿濾液的聲矩陣;Δtsh為泥質(zhì)的聲波時差;Vsh為粘土的體積;
φN為中子測井孔隙度;φN,ma為致密砂巖骨架的中子孔隙度;φN,f為泥漿濾液的中子孔隙度;φN,sh為泥質(zhì)的中子孔隙度;
φD為密度測井孔隙度;ρma為致密砂巖的骨架的密度;ρf是泥漿濾液的密度;ρsh是泥質(zhì)的密度。
4.如權(quán)利要求3所述的基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法,其特征在于:滲透率K的計算模型如下:
式中,Swb是儲層束縛水水飽和度。
5.如權(quán)利要求4所述的基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法,其特征在于:含水飽和度Sw的計算模型如下:
式中,Rt為儲層的真電阻率;Rw是地層水電阻率;a,b,m和n為經(jīng)驗常數(shù)。
6.如權(quán)利要求5所述的基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法,其特征在于:所述步驟E中,通過優(yōu)化遺傳算法目標(biāo)函數(shù)E計算反向傳播神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、極限學(xué)習(xí)機、小波神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)三個專家網(wǎng)絡(luò)權(quán)重:
式中,T是目標(biāo)值;N是訓(xùn)練數(shù)據(jù)數(shù)量;
在利用遺傳算法計算時,制定以下約束條件:
AwT=b
式中,A=[1 1 1],w=[w1 w2 w3],b=1,w1 w2 w3分別為反向傳播神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、極限學(xué)習(xí)機、小波神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)三個專家網(wǎng)絡(luò)權(quán)重范圍為0到1。
7.如權(quán)利要求1所述的基于物理模型和機器學(xué)習(xí)的致密砂巖儲層參數(shù)預(yù)測方法,其特征在于:所述步驟C中,測井?dāng)?shù)據(jù)包括:自然伽馬測井、電阻率測井、聲波時差測井、中子密度測井、補償密度測井。
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