[發(fā)明專利]一種薄膜測厚儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010413088.5 | 申請日: | 2020-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN111595248B | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 何雨姍 | 申請(專利權(quán))人: | 淮北市儒伽醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/06 | 分類號: | G01B11/06 |
| 代理公司: | 安徽專燁知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34194 | 代理人: | 王海艷 |
| 地址: | 235100 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 薄膜 測厚儀 | ||
本發(fā)明公開了薄膜測厚技術(shù)領(lǐng)域的一種薄膜測厚儀,包括安裝底座和薄膜測厚機構(gòu),所述薄膜測厚機構(gòu)設(shè)置在安裝底座上;本發(fā)明通過在安裝底座上設(shè)置薄膜測厚機構(gòu),可實現(xiàn)持續(xù)性的薄膜厚度測試,進行測厚前平整時,通過撐平輥受薄膜壓力推動移動桿下移,使第二接電片和第一接電片脫離,進而控制直線電機停機位置,使薄膜處于繃緊且不會變形的狀態(tài),隨后測厚過程中薄膜一直處于平整狀態(tài),實現(xiàn)了薄膜測厚儀在測厚前和測厚過程中都能對薄膜實現(xiàn)整平的功能,保證了光源探頭、接收探頭、控制器和顯示屏配合測試厚度的精準(zhǔn)性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及薄膜測厚領(lǐng)域,具體為一種薄膜測厚儀。
背景技術(shù)
透明薄膜是一種塑料制成的膜狀物體,其在農(nóng)業(yè)大棚中具有很廣泛的應(yīng)用。
在薄膜生產(chǎn)制造中為保證薄膜的質(zhì)量,就需要對薄膜的厚度進行測量,現(xiàn)在技術(shù)中對薄膜的測量常常使用LS152塑料薄膜在線測厚儀對其厚度進行測量,LS152塑料薄膜在線測厚儀包括光源探頭、接收探頭、控制器以及顯示屏構(gòu)成,光源探頭發(fā)射光源穿過薄膜,接收探頭會接收透過薄膜后的光源,隨后接收探頭將信號傳遞給控制器,控制器對數(shù)據(jù)進行分析和轉(zhuǎn)化,然后顯示屏便會顯示薄膜的厚度數(shù)據(jù),LS152塑料薄膜在線測厚儀在可實現(xiàn)持續(xù)測量薄膜厚度的功能,但是薄膜在持續(xù)穿過接收探頭與光源探頭之間時沒有設(shè)置讓薄膜時刻保證平整的機構(gòu),可能導(dǎo)致在測量薄膜前和測量薄膜過程中,薄膜會出現(xiàn)折疊導(dǎo)致測量出現(xiàn)誤差。
基于此,本發(fā)明設(shè)計了一種薄膜測厚儀,以解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種薄膜測厚儀,以解決上述背景技術(shù)中提出的可能導(dǎo)致在測量薄膜前和測量薄膜過程中,薄膜會出現(xiàn)折疊導(dǎo)致測量出現(xiàn)誤差的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種薄膜測厚儀,包括安裝底座和薄膜測厚機構(gòu),所述薄膜測厚機構(gòu)設(shè)置在安裝底座上;
所述安裝底座包括底座板,所述底座板頂面一側(cè)固定安裝有直線電機,所述直線電機上和直線電機一側(cè)均設(shè)有支撐座,所述支撐座用于轉(zhuǎn)動裝配薄膜料輥和薄膜繞料輥,支撐座上還設(shè)有用于控制薄膜料輥和薄膜繞料輥同速收放的勻速收放裝置;
所述薄膜測厚機構(gòu)包括位于兩個支撐座之間的支架,所述支架固定在底座板頂面,支架上方水平布置有兩個位于同一水平面的撐平輥,兩個所述撐平輥共同轉(zhuǎn)動連接有連接板,所述連接板底部固定連接有與支架頂面滑動裝配的移動桿,所述移動桿上固定連接有擋環(huán),所述擋環(huán)與支架頂面之間設(shè)有套裝在移動桿上的彈簧,所述彈簧上方設(shè)有與支架固定的U型支板,所述U型支板上貫穿有與其固定的光源探頭,所述光源探頭正下方設(shè)有固定在支架頂面的接收探頭,所述光源探頭和接收探頭分別通過導(dǎo)線共同連接有控制器,所述控制器通過導(dǎo)線連接有顯示屏,所述移動桿底部固定連接有第一接電片,所述第一接電片通過導(dǎo)線與直線電機連接,且第一接電片頂部接觸有第二接電片,所述第二接電片頂部固定連接有頂端固定在支架底面的支撐件,第二接電片通過導(dǎo)線連接電源;
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