[發明專利]涉及用于檢測硬件木馬的電路的設備和方法

在審

• 申請號: 202010410565.2
• 申請日: 2020-05-14
• 公開（公告）號: CN111985008A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 簡-彼得·斯考特
• 申請（專利權）人: 恩智浦有限公司
• 主分類號: G06F21/72
• 分類號: G06F21/72;G06F21/75
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 莊錦軍

1.一種設備，其特征在于，包括：

集成電路，所述集成電路包括內部電路，所述內部電路具有相對于可疑硬件木馬(HT)要保持機密的敏感/秘密數據(SSD)，并且所述內部電路包括訪問端口，通過所述訪問端口，與所述內部電路相關聯的信息能被與所述HT相關聯的外部電路訪問；以及

另外的電路，所述另外的電路用于學習所述內部電路的行為，所述行為在涉及所述內部電路、涉及所述SSD以及涉及與所述集成電路的應用在功能上相關聯的其它數據的不同操作條件下對于所述集成電路是唯一的。

2.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述另外的電路是啟發式操作電路，并且所述內部電路的所述行為由所述啟發式操作電路通過觀察所述內部電路的常規通道和所述內部電路的側通道來學習。

3.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述不同操作條件包括使用所述SSD的一個或多個經過改變的版本來訪問所述內部電路。

4.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，另外包括學習中心存儲器，在所述學習中心存儲器處，所述另外的電路存儲從中開發所述內部電路的所學習的行為的數據以及關聯指令。

5.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述另外的電路包括學習中心存儲器和關聯指令，所述關聯指令用于開發所述內部電路的所述所學習的行為，并評估和關聯涉及所述內部電路在不同操作條件下的操作的統計數據。

6.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述另外的電路包括學習中心存儲器和關聯指令，所述關聯指令用于開發所述內部電路的所述所學習的行為，并評估和關聯涉及所述內部電路在不同操作條件下的操作的統計數據，其中所述另外的電路將使用深度學習指令來提供反饋數據，以修改所述SSD和與所述集成電路的所述應用在功能上相關聯的所述其它數據。

7.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述另外的電路將確定以下的概率分布：

最低有效位(LSB)和第二LSB；

對外部端口的兩次訪問之間的時間間隔；

存儲器訪問地址的差異；以及

讀取或寫入數據的差異。

8.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，另外包括學習中心存儲器，在所述學習中心存儲器處，所述另外的電路存儲基于與所述內部電路相關聯的統計屬性或不規則性通過改變或調整用于觸發監測或記錄事件的邏輯操作從中開發所述內部電路的所述所學習的行為的數據。

9.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述另外的電路將檢測試圖通過所述端口傳輸信息的所述可疑HT。

10.一種非暫時性計算機可讀存儲介質，其特征在于，為了在集成電路中使用，所述集成電路包括具有敏感/秘密數據(SSD)并且包括訪問端口的內部電路，通過所述訪問端口，與所述內部電路相關聯的信息能被與硬件木馬(HT)相關聯的外部電路訪問，所述非暫時性計算機可讀存儲介質包括指令，所述指令在被執行時使計算設備的處理器：

使啟發式操作電路學習所述內部電路的行為，所述行為在不同操作條件下對于所述集成電路是唯一的，所述不同操作條件涉及：所述內部電路、所述SSD以及與所述集成電路的應用在功能上相關聯的其它數據；并且

使用由所述啟發式操作電路學習的所述行為來檢測可疑HT或阻止可疑HT訪問所述集成電路。