[發(fā)明專利]液晶顯示模組的銀漿導(dǎo)通檢測方法及銀漿導(dǎo)通檢測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010407797.2 | 申請日: | 2020-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN111552101B | 公開(公告)日: | 2023-07-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 郭曉琴;駱志鋒;羅俊;韋艷群;蕭逸 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳同興達(dá)科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司: | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384 | 代理人: | 彭濤;宋鵬躍 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道新瀾*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 液晶顯示 模組 銀漿導(dǎo)通 檢測 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開一種液晶顯示模組的銀漿導(dǎo)通檢測方法及銀漿導(dǎo)通檢測系統(tǒng),該方法包括:根據(jù)液晶顯示模組的抗靜電指標(biāo)及測試需求調(diào)整一電荷發(fā)生器的靜電電壓;液晶顯示模組的FPC中的接地端子接地;液晶顯示模組點亮;至少一次將電荷發(fā)生器的靜電釋放到液晶顯示模組的顯示屏的表面;觀察顯示屏的顯示變化,得出銀漿是否導(dǎo)通的檢測結(jié)果。通過將電荷釋放到液晶顯示模組的顯示屏表面,利用顯示屏的顯示變化,判斷銀漿是否導(dǎo)通,避免了傳統(tǒng)方法中需物理接觸銀漿點進(jìn)行檢測的弊端,不會破壞銀漿,且該銀漿導(dǎo)通的檢測可以與顯示屏的其他功能性檢測一起完成,大大節(jié)約了檢測資源。本發(fā)明的銀漿導(dǎo)通檢測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、成本低,通用于不同型號的液晶顯示模組。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及液晶顯示模組技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及液晶顯示模組的銀漿導(dǎo)通檢測方法及銀漿導(dǎo)通檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在液晶顯示模組中,一般通過點銀漿而把液晶顯示屏的上下玻璃導(dǎo)通,釋放表面的靜電,防止靜電損壞液晶顯示屏。銀漿將液晶顯示屏的上玻璃(即CF基板)與下玻璃(即Array基板)的接地線導(dǎo)通,實現(xiàn)靜電釋放,但如果液晶顯示模組銀漿阻值偏大或者銀漿斷開,則銀漿失效,無法進(jìn)行靜電的導(dǎo)通及釋放,此種情況則需要重新點銀漿。目前對銀漿導(dǎo)通的檢測方法,一般使用萬用表或者阻抗儀對銀漿進(jìn)行接觸式檢測。采用該方法在進(jìn)行銀漿導(dǎo)通檢測時,用萬用表筆或阻抗儀一端接觸CF基板的銀漿點,另一端接觸到液晶顯示模組的FPC(Flexible?Printed?Circuit)上漏銅處的接地點。通過讀取萬用表筆或阻抗儀的數(shù)值判斷銀漿是否合格。該方法存在以下弊端:
a)因為接觸式檢測,在檢測時容易造成銀漿接觸點的損壞。銀漿質(zhì)軟,即便用測試架接觸銀漿位置,也有損壞的可能。該物理接觸的檢測方法,可能會把原本導(dǎo)通的銀漿,在萬用表筆或阻抗儀接觸后對銀漿點造成損壞,而導(dǎo)致銀漿失效。
b)接觸檢測的過程中存在測試筆損壞玻璃邊角的可能。
C)需要一個崗位單獨進(jìn)行測試,耗時耗力。
發(fā)明內(nèi)容
為解決以上存在的技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種液晶顯示模組的銀漿導(dǎo)通檢測方法及銀漿導(dǎo)通檢測系統(tǒng)。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:本發(fā)明提供了一種液晶顯示模組的銀漿導(dǎo)通檢測方法,包括:
根據(jù)液晶顯示模組的抗靜電指標(biāo)及測試需求調(diào)整一電荷發(fā)生器的靜電電壓;
液晶顯示模組的FPC中的接地端子接地;
液晶顯示模組點亮;
至少一次將電荷發(fā)生器的靜電釋放到液晶顯示模組的顯示屏的表面;
觀察顯示屏的顯示變化,得出銀漿是否導(dǎo)通的檢測結(jié)果。
進(jìn)一步地,將電荷發(fā)生器的靜電釋放到液晶顯示屏的表面的次數(shù)為3-5次,每次靜電釋放進(jìn)行0.8-1.2秒。
進(jìn)一步地,所述靜電電壓在1-2kv之間。
進(jìn)一步地,所述電荷發(fā)生器的靜電釋放到液晶顯示模組的顯示屏的中間區(qū)域的表面。
進(jìn)一步地,所述液晶顯示模組點亮后顯示白色畫面或彩色畫面。
進(jìn)一步地,所述顯示屏的顯示變化包括:
在進(jìn)行靜電釋放中,所述顯示屏上顯示一色塊,在靜電釋放后一定時間內(nèi),所述色塊消失;
在進(jìn)行靜電釋放中,所述顯示屏上顯示一色塊,在靜電釋放后一定時間內(nèi),所述色塊未消失或未完全消失。
進(jìn)一步地,如色塊在一定時間內(nèi)消失,則判定檢測結(jié)果為銀漿導(dǎo)通良好;如色塊在一定時間內(nèi)未消失或未完全消失,則判定為銀漿導(dǎo)通不良。
進(jìn)一步地,所述一定時間為0-2秒。
本發(fā)明還提供一種銀漿導(dǎo)通檢測系統(tǒng),包括:
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





