[發明專利]一種用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法

在審

• 申請號: 202010404334.0
• 申請日: 2020-05-13
• 公開（公告）號: CN111522157A
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 華衛華;朱慶華;黃雙平
• 申請（專利權）人: 深圳市全洲自動化設備有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳市中科創為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 彭西洋;梁炎芳

1.一種用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1，根據具體產品預設檢測參數，其中，檢測參數包括區域劃分和與區域劃分相配合的精度參數；

步驟S2，將產品放置于檢測臺上，并啟動檢測；

其中，檢測臺包括與一計算機相連接的皮帶式傳送機構，所述皮帶式傳送機構沿其運行方向依次設置有上料工位、檢測工位和下料工位；所述上料工位設置有上料機構，所述上料機構與所述計算機相連接，用于上料；所述檢測工位設置有檢測機構，所述檢測機構與所述計算機相連接，用于定位采集產品的圖像；所述下料工位設置有下料機構，所述下料機構與所述計算機相連接，用于分揀產品；

步驟S3，待產品移送到位后，啟動檢測機構按拍攝參數拍攝產品的圖像；

步驟S4，根據檢測參數對獲得的圖像進行檢測；

步驟S5，輸出檢測結果；

步驟S6，根據檢測結果分揀產品。

2.根據權利要求1所述的用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，步驟S1中所述的區域劃分的實現方式是通過計算機以一個良品的圖像作為模板預先設定好當前所要檢測產品的高精度區、中精度區、低精度區以及不檢測區。

3.根據權利要求2所述的用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，步驟S1中所述的精度參數包括與高精度區相配合的第一精度參數，與中精度區相配合的第二精度參數，以及與低精度區相配合的第三精度參數。

4.根據權利要求3所述的用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，步驟S2中所述的檢測機構包括沿所述皮帶式傳送機構的運行方向依次設置的一位置傳感器和一定位機械手，于所述定位機械手上方設置的相機和光源，所述位置傳感器、定位機械手、相機和光源分別與所述計算機相連接，所述位置傳感器用于實時檢測產品是否到位，所述定位機械手用于定位抓取產品，所述相機用于采集產品的圖像。

5.根據權利要求4所述的用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，步驟S3的實現方式是通過皮帶式傳送機構將產品移送到檢測工位，由位置傳感器檢測產品是否到位，并通過定位機械手定位夾持住產品，再通過相機根據拍攝參數進行產品的拍攝；

其中，拍攝參數是指拍攝次數，拍攝參數的取值范圍在1次～10次之間。

6.根據權利要求5所述的用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，步驟S4的實現方式是計算機通過相機的SDK接口實時抓取相機拍攝的圖像，并根據區域劃分和精度參數對獲得的每個圖像分別進行分區檢測，每個區域均采用與之相配合的精度參數；

其中，分區檢測是指計算機根據模板與獲得的圖像逐區進行匹配，查找有無缺陷，并根據每個區域對應的精度參數判斷缺陷是否屬于被允許的不良情況。

7.根據權利要求1所述的用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，步驟S5的實現方式是通過計算機輸出檢測結果，包括良品檢測結果和不良品檢測結果。

8.根據權利要求1所述的用于檢測LCD液晶屏缺陷的分區檢驗方法，其特征在于，步驟S6的實現方式是計算機根據檢測結果控制下料機構將產品分揀到良品分揀處或不良品分揀處。