[發明專利]一種FPGA器件測試方法、系統及電子設備在審

申請號：	202010403080.0	申請日：	2020-05-13
公開（公告）號：	CN111522330A	公開（公告）日：	2020-08-11
發明（設計）人：	張曉羽	申請（專利權）人：	航天科工防御技術研究試驗中心
主分類號：	G05B23/02	分類號：	G05B23/02
代理公司：	北京風雅頌專利代理有限公司 11403	代理人：	李翔
地址：	100085***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種 fpga 器件測試方法系統電子設備
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【說明書】：

本發明公開了一種FPGA器件測試方法、系統及電子設備，通過生成對應于Spartan?3系列FPGA器件各功能測試的編程配置文件，并分別生成與其對應的腳本文件，測試過程中一個功能測試結束后自動調用對應的腳本文件下載另一個功能的編程配置文件再次進行測試，并根據編程配置文件調整Spartan?3系列FPGA器件的參數，完成Spartan?3系列FPGA器件的自動重復配置測試，大大減少測試時間，提高測試效率，實現了Spartan?3系列FPGA器件的多個功能測試，解決了Spartan?3系列FPGA器件不能配置和測試相結合、不能多次重復配置測試的問題，使得Spartan?3系列FPGA器件的測試能夠自動化，通用性強，易于移植，大大縮短了FPGA測試程序開發的時間，降低開發成本，從而保障航天武器元器件可靠性，填補了對此類器件測試上的空白。

技術領域

本發明涉及電子元器件測試技術領域，特別是指一種FPGA器件測試方法、系統及電子設備。

背景技術

Spartan-3系列FPGA采用90nm工藝技術和交錯排列引腳技術降低了晶片尺寸和成本，提高了生產效率，并實現了單位邏輯和單位引腳的成本最低。借助于最低的單位邏輯成本，Spartan-3系列FPGA滿足了業界對大批量、I/O優化的可編程邏輯解決方案的需求。Spartan-3系列FPGA為完善的片上系統(SOC)設計提供了一個單一并可輕松定制的平臺。目前國內對于Spartan-3系列FPGA的檢測方法、資源測試方法研究相對較少，缺少針對Spartan-3系列FPGA器件的測試方法。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提出一種FPGA器件測試方法、系統及電子設備，解決上述技術問題。

基于上述目的本發明提供的一種FPGA器件測試方法，用于Spartan-3系列FPGA器件，本方法包括：

生成多個對應于Spartan-3系列FPGA器件的多個功能測試的編程配置文件；

生成與編程配置文件對應的腳本文件，為每個腳本文件分別配置編程配置參數和編程配置文件名稱；

運行腳本文件，根據為每個腳本文件的編程配置參數和編程配置文件名稱，將對應的編程配置文件下載到FPGA器件中；

分別根據各編程配置文件，調整FPGA器件的參數，對FPGA器件進行功能測試，得到功能測試輸出數據。

優選地，生成多個對應于Spartan-3系列FPGA器件的多個功能測試的編程配置文件包括：

運用Spartan-3系列FPGA器件廠商提供的FPGA設計開發工具建立初始配置文件；

手動實現對應各功能測試的可配置邏輯模塊或輸入輸出模塊的邏輯設計；

編譯生成可配置邏輯模塊或輸入輸出模塊的位流文件；

用位流數據專用分析軟件將位流文件提取并搬移到初始配置文件中，生成新的編程配置文件。