[發明專利]一種用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置及其方法

在審

• 申請號: 202010401279.X
• 申請日: 2020-05-13
• 公開（公告）號: CN111551566A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 呂盛坪;廖鑫婷;冼榮亨;羅勇;江城;朱紫純;李燈輝
• 申請（專利權）人: 華南農業大學
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 黃磊

1.一種用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，包括:輸送定位裝置，具有用于傳送印刷電路板的傳送平臺和固定在所述傳送平臺上以用于檢測電路板是否傳送到位及電路板尺寸的光電傳感模塊；

設置在所述輸送定位裝置的上側的電路板圖像采集組件，具有用于為電路板拍攝圖片的圖像采集器和用于調整所述圖像采集器位置的鏡頭定位裝置；

主控計算機，接收所述光電傳感模塊的數據并根據數據控制所述鏡頭定位裝置；

圖像處理單元，用于接收并處理圖像采集器采集的圖像數據并將處理后的結果傳送至所述主控計算機。

2.根據權利要求1所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述傳送平臺具有支架、固定在所述支架上的傳送電機、被所述傳送電機驅動的主動輪軸、從動輪軸和用于承載電路板的傳送皮帶，所述傳送皮帶連接所述主動輪軸和所述從動輪軸；

所述光電傳感模塊設置在所述支架上。

3.根據權利要求2所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述傳送平臺還包括用于調節所述傳送電機轉速的變頻調節器，所述傳送電機通過所述變頻調節器連接至所述主動輪軸，所述變頻調節器電連接至主控計算機。

4.根據權利要求1所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述電路板圖像采集組件還具有抗光干擾防護罩，所述抗光干擾防護罩設置在所述圖像采集器的兩側。

5.根據權利要求1所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述鏡頭定位裝置具有固定所述圖像采集器的固定支架、控制所述固定支架沿第一方向移動的第一行走機構、控制所述第一行走機構沿第二方向移動的第二行走機構、用于控制所述第一行走機構和所述第二行走機構啟動的運動控制模塊，所述運動控制模塊用于接收所述主控計算機的指令。

6.根據權利要求5所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述第一行走機構具有第一支架、設置在所述第一支架上的第一滑軌、與所述第一滑軌滑動配合的第一滑塊和第一驅動件；

所述固定支架固定在所述第一滑塊上，所述第一驅動件通過絲桿驅動所述第一滑塊；

所述運動控制模塊用于控制所述第一驅動件啟動或關閉。

7.根據權利要求6所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述第二行走機構具有第二支架、設置在第二支架上的第二滑軌、與所述第二滑軌滑動配合的第二滑塊和驅動所述第二滑塊移動的第二驅動件；

所述第一支架固定在所述第二滑塊上；所述運動控制模塊用于控制所述第二驅動件啟動或關閉。

8.根據權利要求5所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述鏡頭定位裝置還具有設置在所述固定支架上的輔助光源。

9.根據權利要求8所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置，其特征在于，所述輔助光源環繞所述固定支架，且輔助光源的中心軸線與所述圖像采集器的中心軸線重合。

10.一種采用如權利要求1-9任一項所述的用于印制電路板表面缺陷檢測的裝置進行的方法，其特征在于，包括如下步驟：

入料：將待采集電路板朝上放置于傳送平臺的入口端；

采樣定位：光電傳感模塊判斷待采集電路板是否到達采樣區，若是，則記錄電路板尺寸大小，并定位該電路板位置，暫停傳送平臺輸送；若否，則調整傳送平臺將待采集電路板輸送至采樣區；

圖像采集器定位：主控計算機根據光電傳感模塊的數據計算相應坐標信息，并將信息返回至鏡頭定位裝置，鏡頭定位裝置調整圖像采集器的位置至最佳的成像焦距；

采樣拍攝：待圖像采集器定位完成后，對待測電路板板進行拍攝，所拍攝圖像經圖像采集處理器預處理后傳輸到主控計算機；

出料：主控計算機接收拍攝的圖像后發出出料指令，傳送平臺啟動，電路板傳送至傳送平臺的出口端。