[發(fā)明專利]一種樁體質(zhì)量電法檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010382081.1 | 申請日: | 2020-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN111522066A | 公開(公告)日: | 2020-08-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃俊革;劉宇;裴健;王瑞;盧思同;魯寧琦;漆玉茂;張彧 | 申請(專利權(quán))人: | 上海應(yīng)用技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號: | G01V3/08 | 分類號: | G01V3/08 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
| 地址: | 200235 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 體質(zhì) 量電法 檢測 方法 | ||
1.一種樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,包括:
Step1:提供一與大地構(gòu)成四分之三空間的樁體,在所述樁體的一側(cè)面選取一個第一供電點并記錄坐標(biāo)位置,在所述樁體的另一側(cè)面選取若干個第二供電點并記錄坐標(biāo)位置,在所述樁體上選取若干個觀測點并記錄坐標(biāo)位置;
Step2:將第一供電電極設(shè)于所述第一供電點,將第二供電電極設(shè)于其中一個所述第二供電點;
Step3:向所述第一供電電極和所述第二供電電極供電;
Step4:采集每一個所述觀測點的電場數(shù)據(jù);
Step5:移動所述第二供電電極至下一個所述第二供電點,重復(fù)Step3-Step4,直至完成所述第一供電點分別至每一個所述第二供電點的所有電場數(shù)據(jù)的采集;
Step6:對所有所述電場數(shù)據(jù)結(jié)合坐標(biāo)位置進行數(shù)據(jù)反演,得到異常體的位置和大小。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于:
Step1中包括:在所述樁體上選取若干個測量點并記錄坐標(biāo)位置,所述觀測點位于相鄰兩個所述測量點的中點位置;
Step4中包括:將第一測量電極和第二測量電極依次設(shè)于每兩個相鄰的所述測量點上,通過所述第一測量電極和所述第二測量電極采集所有每兩個相鄰所述測量點之間的連續(xù)電場數(shù)據(jù),且相鄰所述測量點之間的連續(xù)電場數(shù)據(jù)的中點值即為所述觀測點的電場數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,采用電法勘探接收機對所述第一測量電極和所述第二測量電極進行電場數(shù)據(jù)的采集。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,Step1中若干個所述觀測點設(shè)于所述樁體設(shè)置所述第一供電點的一側(cè)面上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,Step3中所述第一供電電極和所述第二供電電極由電法勘探發(fā)射機供電。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,Step6采用電法勘探數(shù)據(jù)處理和解釋軟件進行電場數(shù)據(jù)處理和分析。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,由所述電法勘探數(shù)據(jù)處理和解釋軟件得到視電阻率和所述觀測點坐標(biāo)位置的曲線圖,以此得到所述異常體的位置和大小。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,由所述電法勘探數(shù)據(jù)處理和解釋軟件得到視極化率和所述觀測點坐標(biāo)位置的曲線圖,以此得到所述異常體的位置和大小。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樁體質(zhì)量電法檢測方法,其特征在于,Step1中所述第一供電點、所述第二供電點和所述觀測點在樁體上的豎直位置均位于所述樁體與大地的交接處,且所述第一供電點位于所述樁體水平長度方向的中間位置,若干所述第二供電點和若干所述觀測點均在所述樁體水平長度方向上均布。
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