[發明專利]缺陷檢測方法、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202010380877.3
• 申請日: 2020-05-08
• 公開（公告）號: CN111583225A
• 公開（公告）日: 2020-08-25
• 發明（設計）人: 周喬珂
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62;G09G3/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 孟慶瑩

本發明公開了一種缺陷檢測方法、裝置及存儲介質。缺陷檢測方法用于顯示器件。缺陷檢測方法包括：獲取顯示器件處于顯示狀態的圖像；基于經驗模態分解算法去除圖像的噪聲信號并提取特征信號；基于支持向量機對特征信號進行處理以檢測圖像的亮度缺陷。本發明實施方式的缺陷檢測方法，通過經驗模態分解算法提取圖像的特征信號及支持向量機對特征信號的處理，可自動檢測顯示器件處于顯示狀態的圖像的亮度缺陷，檢測標準統一客觀，能夠實現亮度缺陷的可靠檢測，且檢測速度較快。

技術領域

本發明涉及缺陷檢測技術領域，特別涉及一種缺陷檢測方法、裝置及存儲介質。

背景技術

TFT-LCD液晶顯示器具有低功耗、輕薄易用、高亮度及對比度、高響應速度等眾多優點，被廣泛應用于智能手機、平板電腦、筆記本電腦、電視機等顯示設備。在顯示器生產過程中由于生產工藝等原因經常會產生白點Mura缺陷，Mura缺陷是指顯示器亮度不均勻，造成各種痕跡的現象。顯示器產生Mura缺陷時，需要對顯示器進行亮度補償，以使顯示器亮度均勻。如何對Mura缺陷進行檢測是一個難題。

在相關技術中，采用傳統的人工視覺檢測方法來檢測顯示器的Mura缺陷。然而，該方法易受人的主觀因素以及外界環境干擾，且對Mura缺陷量化缺乏統一的判斷標準，很難實現Mura缺陷的可靠檢測。

發明內容

本發明的實施方式提供了一種缺陷檢測方法、裝置及存儲介質。

本發明實施方式的缺陷檢測方法，用于顯示器件，所述缺陷檢測方法包括：

獲取所述顯示器件處于顯示狀態的圖像；

基于經驗模態分解算法去除所述圖像的噪聲信號并提取特征信號；

基于支持向量機對所述特征信號進行處理以檢測所述圖像的亮度缺陷。

本發明實施方式的缺陷檢測方法，通過經驗模態分解算法提取圖像的特征信號及支持向量機對特征信號的處理，可自動檢測顯示器件處于顯示狀態的圖像的亮度缺陷，檢測標準統一客觀，能夠實現亮度缺陷的可靠檢測，且檢測速度較快。

在某些實施方式中，基于經驗模態分解算法去除所述圖像的噪聲信號并提取特征信號，包括：

基于所述經驗模態分解算法對所述圖像的圖像信號進行逐步分解得到多個本征模分量及余項分量；

獲取所述多個本征模分量為所述特征信號，其中，所述余項分量為所述噪聲信號。

在某些實施方式中，基于支持向量機對所述特征信號進行處理以檢測所述圖像的亮度缺陷，包括：

基于所述支持向量機對所述多個本征模分量進行特征提取及特征融合以生成特征向量；

根據所述特征向量確定多個融合特征值；

對比所述多個融合特征值和多個預設特征值以檢測所述亮度缺陷。

在某些實施方式中，所述亮度缺陷包括多個缺陷類型，每個所述缺陷類型對應不同的所述多個預設特征值，對比所述多個融合特征值和多個預設特征值以檢測所述亮度缺陷，包括：

對比所述多個融合特征值和每個所述缺陷類型對應的所述多個預設特征值以確定所述亮度缺陷的類型。

在某些實施方式中，所述多個預設特征值通過使用包含所述亮度缺陷的圖像對所述支持向量機進行訓練獲得。

在某些實施方式中，所述支持向量機包括核函數參數和懲罰參數，所述核函數參數和所述懲罰參數在所述支持向量機的訓練過程優化。

在某些實施方式中，所述缺陷檢測方法包括：

對所述亮度缺陷進行標記。

本發明實施方式的缺陷檢測裝置，用于顯示器件，所述缺陷檢測裝置包括：