[發明專利]磁共振斷層掃描系統

在審

• 申請號: 202010380706.0
• 申請日: 2020-05-08
• 公開（公告）號: CN111904420A
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 斯特凡·波佩斯庫
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張春水;丁永凡

1.一種磁共振斷層掃描系統(1)，所述磁共振斷層掃描系統包括用于產生基本磁場(B0)的基本場磁體裝置(40)以及多個空間上分離的測量地點(M1，M2，M3，M4，M5，M6，Mp，Ms)，其中所述磁共振斷層掃描系統(1)設計用于，將預期的基本磁場(B0)共同地用于所述測量地點(M1，M2，M3，M4，M5，M6，Mp，Ms)。

2.根據權利要求1所述的磁共振斷層掃描系統(1)，所述磁共振斷層掃描系統設計用于，能夠在共同的基本磁場(B0)中在所述測量地點(M1，M2，M3，M4，M5，M6，Mp，Ms)中的至少兩個測量地點處同時執行磁共振斷層掃描記錄。

3.根據權利要求1或2所述的磁共振斷層掃描系統(1)，

其中所述基本場磁體裝置(40)具有多個空間上彼此分離的基本場磁體區段(44)，以便分別產生具有限定的區段主場方向(R1)的預期的磁場，

其中所述基本場磁體區段(44)中的至少兩個基本場磁體區段相對于彼此設置成，使得所述至少兩個基本場磁體區段的預期的磁場的區段主場方向(R1)彼此以偏轉角伸展，使得所述基本場磁體區段(44)的預期的磁場得出預期的基本磁場(B0)，其中所述基本磁場(B0)具有環形伸展的基本磁體主場方向(R0)。

4.根據上述權利要求中任一項所述的磁共振斷層掃描系統(1)，所述磁共振斷層掃描系統包括：

-在所述基本場磁體裝置(40)之內的至少一個初級測量地點(Mp)

以及

-在所述基本場磁體裝置(40)之外的至少一個次級測量地點(Ms)。

5.根據權利要求4所述的磁共振斷層掃描系統(1)，

其中所述次級測量地點(Ms)處于所述基本場磁體裝置(40)的雜散磁場(Bs)的區域中。

6.根據權利要求4或5所述的磁共振斷層掃描系統(1)，所述磁共振斷層掃描系統包括：

至少兩個設置在所述初級測量地點(Mp)的不同側的次級測量地點(Ms)，所述次級測量地點優選地與所述初級測量地點(Mp)處于共同的平面中，

和/或

多個星形地圍繞所述初級測量地點(Mp)設置的次級測量地點(Ms)。

7.根據上述權利要求中任一項所述的磁共振斷層掃描系統(1)，

其中至少一個測量地點(M1，M2，M3，M4，M5，M6，Mp，Ms)、優選地次級測量地點(Ms)具有高度調節裝置(26)，借助于所述高度調節裝置，能夠調節全部測量地點(M1，M2，M3，M4，M5，M6，Mp，Ms)和/或對象的高度。

8.根據上述權利要求4至7中任一項所述的磁共振斷層掃描系統(1)，

其中至少一個次級測量地點(Ms)設置在與所述初級測量地點(Mp)不同的空間中和/或通過壁部(W)與所述初級測量地點(Mp)分離，

其中在所述初級測量地點(Mp)和所述次級測量地點(Ms)之間的所述壁部(W)優選地是順磁性的和/或是聲學的和/或光學的分離部，和/或所述壁部圍繞測量地點形成法拉第籠。

9.根據上述權利要求4至8中任一項所述的磁共振斷層掃描系統(1)，

其中在所述初級測量地點(Mp)的區域中，所述基本磁場(B0)的基本磁體主場方向(R0)垂直于地面定向。

10.根據上述權利要求中任一項所述的磁共振斷層掃描系統(1)，所述磁共振斷層掃描系統包括至少兩個、優選彼此獨立的、測量裝置(12p，12s)，其中所述測量裝置(12p，12s)中的每個測量裝置設計用于在所述測量地點(M1，M2，M3，M4，M5，M6，Mp，Ms)中的一個測量地點處執行磁共振斷層掃描范圍內的測量，其中優選地，所述測量裝置(12s)中的至少一個測量裝置移動式地構成。