[發(fā)明專利]磁記錄介質(zhì)和磁記錄再現(xiàn)裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010376998.0 | 申請日: | 2020-05-07 |
| 公開(公告)號: | CN111916114B | 公開(公告)日: | 2022-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐晨;張磊;福島隆之;柴田壽人;山口健洋;丹羽和也;茂智雄;根本廣明;梅本裕二;小柳浩 | 申請(專利權(quán))人: | 昭和電工株式會社 |
| 主分類號: | G11B5/667 | 分類號: | G11B5/667 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;李茂家 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 記錄 介質(zhì) 再現(xiàn) 裝置 | ||
提供一種磁記錄介質(zhì)和磁記錄再現(xiàn)裝置,所述磁記錄介質(zhì)的特征在于,具有:基板;在所述基板之上形成的底層;及在所述底層之上形成的磁性層。所述磁性層包含具有L10結(jié)構(gòu)的合金。所述底層包含第1底層和第2底層,所述第1底層包含Mo和Ru,Ru的含量位于5at%~30at%的范圍內(nèi),所述第2底層包含具有BCC結(jié)構(gòu)的材料。所述第2底層形成在所述第1底層和所述基板之間。所述磁記錄再現(xiàn)裝置具有所述磁記錄介質(zhì)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及磁記錄介質(zhì)和磁記錄再現(xiàn)(reproducing)裝置。
背景技術(shù)
近年,通過向磁記錄介質(zhì)照射近場光等以進行表面局部加熱,藉此使磁記錄介質(zhì)的矯頑力降低,進而對信息進行記錄的熱輔助記錄方式或微波輔助記錄方式,作為一種可實現(xiàn)1Tbit/inch2等級的表面記錄密度的下一代記錄方式,受到了廣泛的關(guān)注。
在使用熱輔助記錄方式或微波輔助記錄方式的情況下,即使是室溫下的矯頑力為數(shù)十kOe的磁記錄介質(zhì),藉由磁頭的記錄磁場也可容易地對信息進行記錄。為此,磁記錄介質(zhì)中,磁性層可使用具有大約106J/m3左右的高晶體磁各向異性常數(shù)(Ku)的材料(高Ku材料),其結(jié)果為,不僅可維持熱穩(wěn)定性,而且還可將磁性顆粒的粒徑微細化至6nm以下。
作為高Ku材料,熟知一種具有FePt合金(Ku~7×106J/m3)、CoPt合金(Ku~5×106J/m3)等的L10結(jié)構(gòu)的合金。
在具備包含具有L10結(jié)構(gòu)的合金的磁性層的磁記錄介質(zhì)中,作為構(gòu)成底層的材料,使由具有Cr、W、Mo等的BCC結(jié)構(gòu)的材料、具有MgO等的NaCl型結(jié)構(gòu)的材料的情況較多。
例如,專利文獻1中,作為構(gòu)成從基板側(cè)開始的第1底層、第2底層、第3底層及第4底層的材料,分別使用了Cr合金、Cr合金、MoRu合金及MgO。
[現(xiàn)有技術(shù)文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1](日本)特開2013-157071號公報
發(fā)明內(nèi)容
[要解決的技術(shù)問題]
如前所述,在具備包含具有L10結(jié)構(gòu)的合金的磁性層的磁記錄介質(zhì)中,作為構(gòu)成底層的材料,使用具有Cr、W、Mo等的BCC結(jié)構(gòu)的材料、具有MgO等的NaCl型結(jié)構(gòu)的材料的情況較多。其理由為,進行了(100)配向的、具有BCC結(jié)構(gòu)或NaCl型結(jié)構(gòu)的材料與具有進行了(001)配向的L10結(jié)構(gòu)的合金之間的晶格匹配(lattice matching)較高。
然而,為了對包含具有L10結(jié)構(gòu)的合金的磁性層進行成膜,在對磁性層進行成膜之前需要對基板進行高溫加熱。此外,作為構(gòu)成底層的材料,如前所述,使用具有BCC結(jié)構(gòu)或NaCl型結(jié)構(gòu)的材料的情況較多,就這些材料而言,一般來說,融點較高,當(dāng)對底層進行成膜時,加熱的情況也較多。
但是,經(jīng)本發(fā)明的發(fā)明人的研究可知,對底層進行成膜時的加熱和對磁性層進行成膜之前的加熱會導(dǎo)致磁記錄介質(zhì)的表面光滑度下降,進而可引起波紋度(waviness)變大。
本發(fā)明的發(fā)明人認為其原因如下。
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