[發(fā)明專利]一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010375609.2
• 申請日: 2020-05-07
• 公開（公告）號: CN111638056A
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 余忠明
• 申請（專利權(quán)）人: 張家港市欣達(dá)豐機(jī)電制造有限公司
• 主分類號: G01M15/00
• 分類號: G01M15/00;G01M15/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明屬于微電機(jī)測試領(lǐng)域，尤其是一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)，針對現(xiàn)有的微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)大多測試不夠全面，且不能夠根據(jù)測試數(shù)據(jù)分析微電機(jī)的最佳運(yùn)行狀況，導(dǎo)致測試出的綜合特性不太清晰明確的問題，現(xiàn)提出如下方案，其包括測試模塊、運(yùn)行模塊、處理模塊和分析模塊，所述測試模塊、運(yùn)行模塊和分析模塊均與處理模塊連接，且測試模塊和運(yùn)行模塊均與分析模塊連接，本發(fā)明對于微電機(jī)綜合特性的測試全面，且能夠根據(jù)測試數(shù)據(jù)分析微電機(jī)的最佳運(yùn)行狀況，使得測試出的綜合特性清晰明確。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及微電機(jī)測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)是用于對微電機(jī)的綜合特性進(jìn)行測試的操作系統(tǒng)，隨著科技的進(jìn)步，人們對其有了更高的要求。

現(xiàn)有的微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)大多測試不夠全面，且不能夠根據(jù)測試數(shù)據(jù)分析微電機(jī)的最佳運(yùn)行狀況，導(dǎo)致測試出的綜合特性不太清晰明確，因此，我們提出了一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)用于解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)大多測試不夠全面，且不能夠根據(jù)測試數(shù)據(jù)分析微電機(jī)的最佳運(yùn)行狀況，導(dǎo)致測試出的綜合特性不太清晰明確的缺點(diǎn)，而提出的一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案：

一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)，包括測試模塊、運(yùn)行模塊、處理模塊和分析模塊，所述測試模塊、運(yùn)行模塊和分析模塊均與處理模塊連接，且測試模塊和運(yùn)行模塊均與分析模塊連接。

優(yōu)選的，所述測試模塊、運(yùn)行模塊和分析模塊均與處理模塊雙向連接。

優(yōu)選的，所述測試模塊包括夾持單元、減震性能測試單元、散熱性能測試單元、抗壓性能測試單元和數(shù)據(jù)記錄單元，且減震性能測試單元、散熱性能測試單元和抗壓性能測試單元均與數(shù)據(jù)記錄單元連接。

優(yōu)選的，所述運(yùn)行模塊包括運(yùn)行狀況檢測單元、運(yùn)行狀況模擬單元、運(yùn)行狀況記錄單元、異常狀況分析單元和故障數(shù)據(jù)記錄單元，所述運(yùn)行狀況模擬單元、運(yùn)行狀況檢測單元、運(yùn)行狀況記錄單元和異常狀況分析單元依次連接，且運(yùn)行狀況記錄單元和故障數(shù)據(jù)記錄單元連接。

優(yōu)選的，所述分析模塊包括運(yùn)行壽命分析單元、運(yùn)行環(huán)境最優(yōu)分析單元、運(yùn)行控制最優(yōu)分析單元和分析結(jié)果展示單元，且運(yùn)行壽命分析單元、運(yùn)行環(huán)境最優(yōu)分析單元和運(yùn)行控制最優(yōu)分析單元均與分析結(jié)果展示單元連接。

本發(fā)明中，所述一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)

由于設(shè)置了測試模塊，能夠?qū)ξ㈦姍C(jī)的特性進(jìn)行全方位測試，并且能夠?qū)?shù)據(jù)進(jìn)行記錄；

由于設(shè)置了運(yùn)行模塊，能夠根據(jù)測試的微電機(jī)綜合特性模擬微電機(jī)的運(yùn)行，并對運(yùn)行狀況進(jìn)行檢測和記錄，而且能夠進(jìn)行故障檢測和異常檢測；

由于設(shè)置了分析模塊，能夠根據(jù)微電機(jī)的綜合特性和模擬運(yùn)行數(shù)據(jù)分析出微電機(jī)的運(yùn)行壽命、最優(yōu)運(yùn)行環(huán)境和最優(yōu)操控方法，便于正確使用微電機(jī)。

本發(fā)明對于微電機(jī)綜合特性的測試全面，且能夠根據(jù)測試數(shù)據(jù)分析微電機(jī)的最佳運(yùn)行狀況，使得測試出的綜合特性清晰明確。

附圖說明

圖1為本發(fā)明提出的一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)的原理框圖；

圖2為本發(fā)明提出的一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)的測試模塊的原理框圖；

圖3為本發(fā)明提出的一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)的運(yùn)行模塊的原理框圖；

圖4為本發(fā)明提出的一種微電機(jī)綜合特性測試系統(tǒng)的分析模塊的原理框圖。

具體實施方式