[發(fā)明專利]大腦左右半球不對稱性檢測方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010367686.3
• 申請日: 2020-04-30
• 公開（公告）號: CN111568421B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 袁滌;譚力海
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市神經(jīng)科學(xué)研究院
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 黃廣龍

1.大腦左右半球不對稱性檢測方法，其特征在于，包括：

采集被測個體腦部的磁共振掃描數(shù)據(jù)；

對所述磁共振掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到所述被測個體腦部的定量核磁共振數(shù)據(jù)；其中，所述定量核磁共振數(shù)據(jù)為大分子組織體積或定量T1圖；

根據(jù)掩碼矩陣提取所述定量核磁共振數(shù)據(jù)在左右半球目標(biāo)腦區(qū)范圍內(nèi)的平均值；

利用所述平均值計算偏側(cè)化指數(shù)，并根據(jù)所述偏側(cè)化指數(shù)進(jìn)行大腦左右半球不對稱性檢測，得到檢測結(jié)果；

平均值為大分子組織體積平均值或T1平均值，所述根據(jù)掩碼矩陣提取所述定量核磁共振數(shù)據(jù)在左右半球目標(biāo)腦區(qū)范圍內(nèi)的平均值，包括：

選取目標(biāo)腦區(qū)；

計算所述大分子組織體積在所述掩碼矩陣上的掩碼數(shù)據(jù)；

在所述目標(biāo)腦區(qū)的范圍內(nèi)根據(jù)所述掩碼數(shù)據(jù)得到左右半球目標(biāo)腦區(qū)范圍內(nèi)的大分子組織體積平均值；

或者，

計算所述定量T1圖在所述掩碼矩陣上的掩碼數(shù)據(jù)；

在所述目標(biāo)腦區(qū)的范圍內(nèi)根據(jù)所述掩碼數(shù)據(jù)得到左右半球目標(biāo)腦區(qū)范圍內(nèi)的T1平均值；

獲取所述掩碼矩陣的過程包括：

利用分區(qū)模板將所述目標(biāo)腦區(qū)在矩陣中的數(shù)值設(shè)置為1，其他數(shù)值設(shè)置為0，得到所述掩碼矩陣；

對所述被測個體執(zhí)行認(rèn)知測試任務(wù)得到執(zhí)行結(jié)果，根據(jù)所述執(zhí)行結(jié)果對所述檢測結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證，對所述被測個體執(zhí)行認(rèn)知測試任務(wù)得到執(zhí)行結(jié)果，包括：

選定目標(biāo)腦區(qū)；

根據(jù)所述目標(biāo)腦區(qū)設(shè)定相應(yīng)的認(rèn)知測試任務(wù)；

所述認(rèn)知測試任務(wù)包括：

若所述目標(biāo)腦區(qū)為布洛卡區(qū)，所述認(rèn)知測試任務(wù)包括：詞語重復(fù)任務(wù)；

若所述目標(biāo)腦區(qū)為顳葉，所述認(rèn)知測試任務(wù)包括：句子理解任務(wù)；

若所述目標(biāo)腦區(qū)為初級軀體感知區(qū)，所述認(rèn)知測試任務(wù)包括：簡單手指運(yùn)動任務(wù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大腦左右半球不對稱性檢測方法，其特征在于，對所述磁共振掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到所述被測個體腦部的定量核磁共振數(shù)據(jù)，包括：

根據(jù)所述磁共振掃描數(shù)據(jù)得到質(zhì)子密度像；

根據(jù)所述質(zhì)子密度像計算得到被測個體腦部的所述定量核磁共振數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1至2任一項(xiàng)所述的大腦左右半球不對稱性檢測方法，其特征在于，利用所述平均值計算偏側(cè)化指數(shù)，并根據(jù)所述偏側(cè)化指數(shù)進(jìn)行大腦左右半球不對稱性檢測，包括：

通過偏側(cè)化指數(shù)公式利用所述平均值計算所述偏側(cè)化指數(shù)，根據(jù)所述偏側(cè)化指數(shù)的值，分析所述被測個體的大腦左右半球不對稱性檢測的檢測結(jié)果。