[發明專利]一種pH定量測量的飽和能量非均勻分布磁共振成像方法

有效

• 申請號: 202010364390.6
• 申請日: 2020-04-30
• 公開（公告）號: CN111521629B
• 公開（公告）日: 2022-08-12
• 發明（設計）人: 周欣;蔣衛平;婁昕;郭茜旎;孫獻平;葉朝輝
• 申請（專利權）人: 中國科學院精密測量科學與技術創新研究院
• 主分類號: G01N24/08
• 分類號: G01N24/08;A61B5/055
• 代理公司: 武漢宇晨專利事務所(普通合伙) 42001
• 代理人: 王敏鋒

1.一種pH定量測量的飽和能量非均勻分布磁共振成像方法，包括以下步驟：

步驟1，配制一系列不同pH值的標準CEST造影劑溶液，將SEND成像序列施加至所述標準CEST造影劑溶液，測量不同pH值的標準CEST造影劑溶液在間隔時間t分別設置為t₁和t₂時的SEND效果：SENDR₁、SENDR₂，t₁≠t₂，

SENDR₁=S1/S2；

SENDR₂=S1/S2；

S1、S2分別為α與-α射頻脈沖頻率偏置均設為Δω_rf、-Δω_rf時，進行SEND成像，對所得圖像感興趣區域ROI進行積分得到的信號強度；Δω_rf為CEST造影劑可交換質子信號和水質子信號間頻率差；-Δω_rf為CEST造影劑中可交換質子信號相對水質子信號的對稱位置和水質子信號間頻率差；

所述SEND成像序列包括飽和照射單元的預處理，接著是采樣單元，其中，飽和照射單元由N次重復的飽和照射-間隔模塊組成，每個飽和照射-間隔模塊包括α射頻脈沖照射、-α射頻脈沖照射，α射頻脈沖照射和-α射頻脈沖照射及-α射頻脈沖照射與下一段飽和照射-間隔模塊被間隔時間t隔開，α為射頻脈沖的翻轉角，采樣單元進行采樣；

步驟2，根據公式：

計算一系列不同pH值的所述CEST造影劑溶液的SEND效果比值，繪制SEND效果比值與所述CEST造影劑的pH值的關系曲線，擬合所述關系曲線獲得關系曲線的表達式；

步驟3，將SEND成像序列施加至待測CEST造影劑溶液，根據步驟1的SEND測量步驟測量待測CEST造影劑溶液在間隔時間t分別設置為t₁和t₂時的SEND效果；

步驟4，將步驟3得到的SEND效果代入步驟2的公式計算待測造CEST影劑溶液的SEND效果比值；

步驟5，利用步驟2獲得的關系曲線的表達式和步驟4獲得的待測CEST造影劑溶液的SENDER值，確定待測CEST造影劑環境pH值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述標準CEST造影劑為pH敏感型造影劑，并且觀測核為¹H或異核。