[發明專利]一種多光幕精度靶不可見幕面空間位置的精確標定方法

有效

• 申請號: 202010364136.6
• 申請日: 2020-04-30
• 公開（公告）號: CN111536828B
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 高芬;安瑩;倪晉平;扈冀晗;苗兆
• 申請（專利權）人: 西安工業大學
• 主分類號: F41A31/00
• 分類號: F41A31/00;G01C1/02;G01B11/02;G01B11/00
• 代理公司: 西安新思維專利商標事務所有限公司 61114
• 代理人: 黃秦芳

1.一種多光幕精度靶不可見幕面空間位置的精確標定方法，其特征在于：包括如下步驟：

1)調節發射與接收裝置的激光瞄準器使各光幕的接收與發射端相互對準，完成被測多光幕精度靶系統的搭建；

2)搭建過幕裝置和雙經緯儀測量系統，使過幕裝置與光幕P1相垂直，兩臺經緯儀置于被測多光幕精度靶兩側距離相同處，也就是以六面體框架的軸線為基準的兩側位置，調整測量基線與被測多光幕精度靶的第一幕相平行，并與被測光幕靶的測量坐標系原點等高，所述過幕裝置包括帶有滑塊的導軌，滑塊上設置有一遮光探針，探針指向其前進方向，與導軌平行設置有一測量滑塊直線位移量的光柵尺；

3)選定被測多光幕精度靶上的一處測量區域，將載有遮光探針的滑塊推至導軌一端，將光柵尺置零，并使用經緯儀對探針的空間坐標M₀(x₀,y₀,z₀)進行測量；

4)將滑塊向導軌另一端推進，在滑塊經過各光幕測量區域時，記錄接收裝置的輸出信號值與光柵尺示數；

5)將滑塊繼續向前推進至導軌另一端，記錄光柵尺示數l，使用經緯儀對遮光探針的空間坐標M_e(x_e,y_e,z_e)進行測量；

6)為了取得精準的測量結果，至少應選擇三個測量位置進行測量，將導軌移動至下一測量位置，重復上述步驟3)-5)，直至完成所有測量區域的測量工作；

7)處理數據：單次測量中，滑塊起始點處探針坐標為M₀(x₀,y₀,z₀)，結束點處探針坐標為M_e(x_e,y_e,z_e)，所對應的直線位移量為l，此次測量中被測幕面P_i厚度中心點M_i所處的直線位移量為l_ic，則有各厚度中心點在測量坐標系下的空間坐標M_i(x_i,y_i,z_i)為：

8)使用上一步所得到的光幕面厚度中心空間坐標進行各被測光幕的平面方程擬合，得到各光幕面的平面方程，從而得到各光幕面的空間位置關系，最后，通過坐標系轉換得到被測精度靶坐標系下，可用于求解測量結果的各幕面方程參數。