[發明專利]一種用于結構或構件加載試驗中的位移計固定裝置在審
| 申請號: | 202010350816.2 | 申請日: | 2020-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN111503484A | 公開(公告)日: | 2020-08-07 |
| 發明(設計)人: | 趙建軍;李爽;籍多發 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號: | F16M11/38 | 分類號: | F16M11/38;B66F7/06;B66F7/28;G01B21/02 |
| 代理公司: | 哈爾濱市陽光惠遠知識產權代理有限公司 23211 | 代理人: | 李恩慶 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 結構 構件 加載 試驗 中的 位移 固定 裝置 | ||
本發明提出了一種用于結構或構件加載試驗中的位移計固定裝置,屬于建筑及橋梁結構或構件試驗領域。解決了現有位移計的固定方式影響試驗進度和精度的問題。它包括固定平臺、剪刀撐和底板平臺,所述底板平臺通過剪刀撐與固定平臺相連,所述固定平臺數量為多個,多個固定平臺之間均通過剪刀撐相連,所述底板平臺上設有固定螺栓孔和磁鐵,所述底板平臺側面設置有調節螺栓孔。它主要用于結構或構件加載試驗中位移計的固定。
技術領域
本發明屬于建筑及橋梁結構或構件試驗領域,特別是涉及一種用于結構或構件加載試驗中的位移計固定裝置。
背景技術
在現有技術中,位移計的固定方法大多采用為臨時裝置,而且固定裝置多為固定式,不可靈活調整位移計位置。因此,不僅會嚴重影響試驗進度,還會因位移計固定不牢固影響試驗精度。
發明內容
本發明為了解決現有技術中的問題,提出一種用于結構或構件加載試驗中的位移計固定裝置。
為實現上述目的,本發明采用以下技術方案:一種用于結構或構件加載試驗中的位移計固定裝置,它包括固定平臺、剪刀撐和底板平臺,所述底板平臺通過剪刀撐與固定平臺相連,所述固定平臺數量為多個,多個固定平臺之間均通過剪刀撐相連,所述底板平臺上設有多個固定螺栓孔和磁鐵,所述底板平臺側面設置有多個調節螺栓孔。
更進一步的,所述底板平臺為雙層結構,上層結構沿下層結構相對滑動。
更進一步的,所述底板平臺上設置有固定支座,所述固定平臺頂面和底面分別設置固定支座和滑動支座,所述剪刀撐兩端分別與固定支座和滑動支座相連。
更進一步的,所述磁鐵數量為三個,三個磁鐵分別設置在底板平臺的兩側和中間。
更進一步的,所述磁鐵的寬度為1cm。
更進一步的,所述固定螺栓孔數量為八個,八個固定螺栓孔分別設置在底板平臺的角部和中間位置。
更進一步的,所述剪刀撐的支撐桿件中部為方鋼,兩頭為圓形結構。
更進一步的,所述剪刀撐的支撐桿連接處通過鎖緊螺栓相連。
更進一步的,所述底板平臺與固定平臺之間以及多個固定平臺之間均設置有兩對剪刀撐。
更進一步的,所述固定平臺數量為四個。
與現有技術相比,本發明的有益效果是:解決了現有位移計的固定方式影響試驗進度和精度的問題。本發明可用于結構或構件加載試驗中位移計的固定,能夠應用于各類結構或構件,試驗過程易操作,具有良好的實用性,安裝、拆卸簡便,適用范圍廣,試驗效率高。本發明安裝、拆卸方便,可實用于各類結構或構件的加載試驗中,底座平臺上設置多個螺栓孔和磁鐵,螺栓孔包括縱向和橫向兩部分,其中縱向螺栓孔用于固定底座平臺,和磁鐵起同一作用,橫向螺栓孔用于調整底座平臺位置;底座平臺的固定方式可按實際情況進行選用,磁鐵固定可作為優選方式;固定平臺可通過剪刀撐來調整其高度,在所研究結構或構件同一高度處可同時布置多個位移計,取其平均值作為該高度處的位移,可有效提高試驗精度。
附圖說明
圖1為本發明所述的一種用于加載試驗中的位移計固定裝置結構示意圖
圖2為本發明所述的底板平臺俯視結構示意圖
圖3為本發明所述的底板平臺側視結構示意圖
圖4為本發明所述的底板平臺螺栓固定結構示意圖
圖5為本發明所述的剪刀撐結構示意圖
1-固定平臺,2-剪刀撐連接處,3-固定支座,4-剪刀撐,5-滑動支座,6-底板平臺,7-固定螺栓孔,8-磁鐵,9-調節螺栓孔,10-固定螺栓。
具體實施方式
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