[發明專利]確定NaI能譜儀的能量計算積分點數的方法

有效

• 申請號: 202010344105.4
• 申請日: 2020-04-27
• 公開（公告）號: CN111638545B
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發明（設計）人: 魏清陽;劉亞強;江年銘;鄺凱逸;許天鵬;黃帥
• 申請（專利權）人: 北京永新醫療設備有限公司
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 肖陽

1.一種確定NaI能譜儀的能量計算積分點數的方法，其特征在于，包括：

確定NaI能譜儀實際工作環境溫度的范圍內的最低溫度和最高溫度；

分別測定NaI能譜儀在最低溫度和最高溫度條件下的天然本底照射的波形數據，并基于所述波形數據確定平均波形數據，分別記作W1和W2；

分別計算最低溫度和最高溫度下的W1和W2在不同積分點數n的積分值，分別記作E1n和E2n，所述天然本底照射的波形數據包括觸發閾值前m₁個點和觸發閾值后m₂個點，其中，m₁和m₂分別滿足如下條件：(m₁+m₂)/f≥2μs，m₁＝5～10，所述積分點數選自m₁+round(400ns*f)至m₁+m₂，f為天然本底照射的采樣率；

比較不同積分點數對應的E1n和E2n的差異比例值r，r＝|E1n-E2n|/(E1n+E2n)，其中，差異比例值r的最小的值所對應的積分點數作為能量計算積分點數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述天然本底照射的波形數據為扣除基線后的波形數據。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述天然本底照射的采樣率f大于10MHz。

4.一種使用NaI能譜儀的方法，其特征在于，包括：

設定工作參數，其中，所述工作參數包括能量計算的積分點數，所述能量計算的積分點數是通過權利要求1～3任一項所述方法確定的；

利用NaI能譜儀進行檢測。