[發明專利]基于電導率的次生孔隙有效性評價方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 202010337176.1
• 申請日: 2020-04-26
• 公開（公告）號: CN111350499B
• 公開（公告）日: 2023-04-11
• 發明（設計）人: 李曉輝;李慶峰;王英武;李曉峰;崔巖磊;蘭袁媛;緱艷紅;周彥球;夏雪;吳慶巖;閆學洪;吳艷輝;王鵬
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團測井有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00;G01N15/08;G01N27/04;G01V1/50
• 代理公司: 大慶知文知識產權代理有限公司 23115
• 代理人: 楊英健

1.一種基于電導率的次生孔隙有效性評價方法，其特征在于，包括：

根據電導率及所述電導率在若干第一電導率區間內的頻數得到電導率分布譜；其中，所述根據電導率及電導率在第一電導率區間內的頻數得到電導率分布譜的方法，包括：獲取縫洞分割圖像及提取所述縫洞分割圖像的縫及/或洞；確定所述縫及/或洞的電導率；將所述電導率的范圍按照設定區間個數進行劃分得到若干第一電導率區間；分別統計所述若干第一電導率區間內的頻數；根據所述電導率及所述頻數得到所述電導率分布譜；

基于所述電導率分布譜及設定電導率確定次生孔隙連通性和有效性；其中，所述基于所述電導率分布譜及設定電導率確定次生孔隙連通性和有效性的方法，包括：若所述電導率分布譜的電導率大于或者等于所述設定電導率，則所述次生孔隙連通性和有效性好；否則，所述次生孔隙連通性和有效性差。

2.根據權利要求1所述的次生孔隙有效性評價方法，其特征在于，還包括：

根據所述電導率確定若干第二電導率區間中每個區間內的頻數曲線，在相鄰的所述頻數曲線之間做不同的標記；

基于所述標記的范圍及/或所述電導率分布譜的分布寬度反應所述次生孔隙連通性和有效性；

其中，所述標記與所述電導率的數值一一對應。

3.根據權利要求2所述的次生孔隙有效性評價方法，其特征在于，所述根據所述電導率確定若干第二電導率區間中每個區間內的頻數曲線的方法，包括：

確定所述每個區間內所述頻數曲線的數量；

在所述每個區間內，以第一個頻數曲線為基值頻數曲線，分別根據若干設定值確定所述電導率的頻數，分別以測量深度為橫坐標及所述頻數為縱坐標繪制剩余所述頻數曲線。

4.根據權利要求3所述的次生孔隙有效性評價方法，其特征在于，所述根據若干設定值確定所述電導率的頻數的方法，包括：

確定所述每個區間的最小值的倍數為所述若干設定值；

分別統計所述電導率小于所述若干設定值的個數，所述個數為所述剩余所述頻數曲線的頻數。

5.一種基于電導率的次生孔隙有效性評價裝置，其特征在于，包括：

電導率分布譜單元，用于根據電導率及所述電導率在若干第一電導率區間內的頻數得到電導率分布譜；其中，所述電導率分布譜單元，包括：提取單元，用于獲取縫洞分割圖像及提取所述縫洞分割圖像的縫及/或洞；確定單元，用于確定所述縫及/或洞的電導率；劃分單元，用于將所述電導率的范圍按照設定區間個數進行劃分得到若干第一電導率區間；第一統計單元，用于分別統計所述若干第一電導率區間內的頻數；輸出單元，用于根據所述電導率及所述頻數得到所述電導率分布譜；

評價單元，用于基于所述電導率分布譜及設定電導率確定次生孔隙連通性和有效性；其中，所述評價單元，包括：判斷單元，若所述電導率分布譜的電導率大于或者等于所述設定電導率，則所述次生孔隙連通性和有效性好；否則，所述次生孔隙連通性和有效性差。

6.根據權利要求5所述的次生孔隙有效性評價裝置，其特征在于；

所述的次生孔隙有效性評價裝置，還包括：

標記單元，用于根據所述電導率確定若干第二電導率區間中每個區間內的頻數曲線，在相鄰的所述頻數曲線之間做不同的標記；

連通性和有效性反應單元，用于基于所述標記的范圍及/或所述電導率分布譜的分布寬度反應所述次生孔隙連通性和有效性；

其中，所述標記與所述電導率的數值一一對應。

7.根據權利要求6所述的次生孔隙有效性評價裝置，其特征在于，所述標記單元，包括：

頻數曲線的數量確定單元，用于確定所述每個區間內所述頻數曲線的數量；

繪制單元，用于在所述每個區間內，以第一個頻數曲線為基值頻數曲線，分別根據若干設定值確定所述電導率的頻數，分別以測量深度為橫坐標及所述頻數為縱坐標繪制剩余所述頻數曲線。