[發明專利]一種測量沖洗帶真實電阻率的方法及電成像測井儀在審
| 申請號: | 202010328705.1 | 申請日: | 2020-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN111550237A | 公開(公告)日: | 2020-08-18 |
| 發明(設計)人: | 黃琳;張志剛;劉耀偉;馬歡波;盧濤;吳興方;毛保華;張中慶 | 申請(專利權)人: | 中國海洋石油集團有限公司;中海油田服務股份有限公司 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;E21B47/00 |
| 代理公司: | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人: | 解婷婷;栗若木 |
| 地址: | 100010 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 沖洗 真實 電阻率 方法 成像 測井 | ||
1.一種測量沖洗帶真實電阻率的方法,應用于電成像測井儀,所述電成像測井儀包括金屬芯棒、推靠支撐臂,在所述金屬芯棒的上部設置回流電極,在所述推靠支撐臂上設置所述金屬屏蔽極板,在所述金屬屏蔽極板上安裝多個鈕扣電極,其特征在于,包括:
向金屬屏蔽極板和每個鈕扣電極輸入預定大小的電壓;
保持所述金屬屏蔽極板與所述鈕扣電極電位相等,以及保持所述金屬屏蔽電極、所述鈕扣電極與所述回流電極的電位差恒定,測量多個鈕扣電極中任一鈕扣電極的電流;
根據所測量的鈕扣電極的電流和所述預定大小的電壓計算得到該鈕扣電極相對應的阻抗信息;
利用所述鈕扣電極的阻抗信息計算所述鈕扣電極的刻度系數;
根據所述刻度系數、所述阻抗信息計算得到待測地層沖洗帶真實電阻率。
2.根據權利要求1所述的測量沖洗帶真實電阻率的方法,其特征在于,
每個鈕扣電極與所述金屬屏蔽極板之間通過絕緣材料隔開;
所述電成像測井儀還包括絕緣短節;
所述金屬芯棒上部通過所述絕緣短節連接所述金屬芯棒下部,所述金屬芯棒的下部連接所述推靠支撐臂。
3.根據權利要求1所述的測量沖洗帶真實電阻率的方法,其特征在于,所述根據所測量的鈕扣電極的電流和所述預定大小的電壓計算得到該鈕扣電極相對應的阻抗信息,包括:根據所測量的電流以及預定大小的電壓根據阻抗計算公式計算得到相對應的阻抗信息;
其中,所述阻抗計算公式為:
上述阻抗計算公式中:ZKE表示鈕扣電極阻抗響應,uE表示鈕扣電極的預定電壓,IE表示所測量的鈕扣電極的電流。
4.根據權利要求2所述的測量沖洗帶真實電阻率的方法,其特征在于,所述利用所述鈕扣電極的阻抗信息計算所述鈕扣電極的刻度系數,包括:
獲取待測地層已測量到的沖洗帶電阻率;
根據所述沖洗帶電阻率、所述鈕扣電極的阻抗信息采用刻度系數計算公式計算得到所述鈕扣電極相應的刻度系數;
其中,所述刻度系數計算公式為:
上述刻度系數計算公式中:KBi表示鈕扣電極Bi的刻度系數,Rxo表示地層沖洗帶電阻率,ZKEBi表示鈕扣電極阻抗響應,i表示電極的編號。
5.根據權利要求4所述的測量沖洗帶真實電阻率的方法,其特征在于,所述根據所述刻度系數、所述阻抗信息計算得到待測地層沖洗帶真實電阻率,包括:
根據所述刻度系數、所述阻抗信息采用電阻率計算公式計算得到沖洗帶真實電阻率,其中,電阻率計算公式為:
Rai=KBi*ZKEBi
上述電阻率計算公式中:Rai表示沖洗帶真實電阻率,KBi表示鈕扣電極的刻度系數,ZKEBi表示鈕扣電極的阻抗響應,i表示電極的編號。
6.一種電成像測井儀,其特征在于,包括:金屬芯棒、推靠支撐臂;
所述金屬芯棒的上部設置回流電極;所述金屬芯棒的下部連接所述推靠支撐臂,所述推靠支撐臂上設置所述金屬屏蔽極板,在所述金屬屏蔽極板上設置多個鈕扣電極;其中,所述金屬屏蔽極板設置為在測量期間輸入預定大小的電壓,保持與所述鈕扣電極電位相等,以及保持與所述回流電極的電位差恒定;所述鈕扣電極設置為在測量沖洗帶真實電阻率期間,輸入預定大小的電壓并保持電壓恒定,測量所述鈕扣電極表面流出的電流;根據所測量的電流和所述預定大小的電壓計算得到該鈕扣電極相對應的阻抗信息;利用所述鈕扣電極的阻抗信息計算所述鈕扣電極的刻度系數;根據所述刻度系數、所述阻抗信息計算得到待測地層沖洗帶真實電阻率。
7.根據權利要求6所述的電成像測井儀,其特征在于,每個鈕扣電極與所述金屬極板之間通過絕緣材料隔開;
所述電成像測井儀還包括:絕緣短節;
所述絕緣短節,用于連接所述金屬芯棒上部和所述金屬芯棒下部。
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