[發明專利]一種基于線性化路徑的X光掃描系統

有效

• 申請號: 202010328332.8
• 申請日: 2020-04-23
• 公開（公告）號: CN111528875B
• 公開（公告）日: 2023-05-05
• 發明（設計）人: 王少白
• 申請（專利權）人: 上海逸動醫學科技有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 合肥律眾知識產權代理有限公司 34147
• 代理人: 鄧盛花

1.一種基于線性化路徑的X光掃描系統，其特征在于：

在X光機設備的X光接收裝置內設置若干區域化的傳感部位，每個區域化的傳感部位上都設置有若干點狀分布的傳感器；

在X光機設備的X光照射裝置、X光接收裝置上定義同步對應的系統坐標；

在X光機設備的X光接收裝置上采集需要掃描的人體部位節點坐標參數；

在計算機分析系統中區域化節點參數的分析，包括對采集到參數信息中的端側節點參數分析，以及對應邊界位置的環節節點參數分析，通過對環節動態節點參數與端側節點間形成的初始線性化函數之間的對應參數對比，輸出最終線性路徑參數/函數；

計算機分析系統對區域化節點參數進行參數分析：

包括對上臨界區域的線性分析：

設上臨界區域節點低位點坐標：(X1，Y1)；

設上臨界區域節點高位點坐標：(X2，Y2)；

設上臨界區域動態坐標：(Xu，Yu)；

上位初始線性函數F12(X)＝F[(X1，Y1)，(X2，Y2)]；

設上位差量Cs＝Yu-F12(Xu)；

對上位差量的對應值進行分析，建立集合{Cs}，并取其中的最大值Cmax(最大值Cmax可為正值或負值)；

當最大值Cmax為正值時，則最終該區域段內的上位線性邊界為Fa＝F12(X)+Cmax；

當最大值Cmax為負值時，則最終該區域段內的上位線性邊界為Fa＝F12(X)；

計算機分析系統對區域化節點參數進行參數分析：

包括對下臨界區域的線性分析：

設下臨界區域節點低位點坐標：(X3，Y3)；

設下臨界區域節點高位點坐標：(X4，Y4)；

設下臨界區域動態坐標：(Xd，Yd)；

下位初始線性函數F34(X)＝F[(X3，Y3)，(X4，Y4)]；

設下位差量Cd＝Yd-F34(Xd)；

對下位差量的對應值進行分析，建立集合{Cs}，并取其中的最小值Cmin(最小值Cmin可為正值或負值)；

當最小值Cmin為正值時，則最終該區域段內的下位線性邊界為Fb＝F34(X)；

當最小值Cmin為負值時，則最終該區域段內的下位線性邊界為Fb＝F34(X)-︱Cmin︱。

2.根據權利要求1所述的一種基于線性化路徑的X光掃描系統，其特征在于：

X光機設備上采用到的壓力位置信息通過信號轉換模塊，將壓力點位信息轉換為系統內預設定的坐標參數信息。

3.根據權利要求1所述的一種基于線性化路徑的X光掃描系統，其特征在于：

計算機分析系統中通過得到最終線性路徑參數/函數，驅動控制系統/控制器，完成X光機設備的線性化掃描過程。