[發明專利]自適性電壓定比測量方法及相關的電子裝置

在審

• 申請號: 202010325620.8
• 申請日: 2020-04-23
• 公開（公告）號: CN112782461A
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 賴照民;王鴻瑋;張堂洪;謝瀚頡;郭俊儀
• 申請（專利權）人: 瑞昱半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 黃艷;鄭特強

1.一種自適性電壓定比測量方法，包含有：

將一系統芯片安裝至一印刷電路板上，并連接至一存儲元件；

致能該系統芯片以自該存儲元件讀取一啟動程序碼，并執行該啟動程序碼以對該系統芯片進行自適性電壓定比測量，以決定出該系統芯片分別在多個操作頻率下的多個目標供應電壓值，并據以建立出一自適性電壓定比查找表；以及

將該自適性電壓定比查找表存儲在該系統芯片或是該存儲元件中。

2.如權利要求1所述的自適性電壓定比測量方法，其中該印刷電路板上還包含一電源管理芯片，且致能該系統芯片以自該存儲元件讀取該啟動程序碼，并執行該啟動程序碼以對該系統芯片進行自適性電壓定比測量，以決定出該系統芯片分別在多個操作頻率下的多個目標供應電壓值，并據以建立出該自適性電壓定比查找表的步驟包含有：

致能該系統芯片以自該存儲元件讀取該啟動程序碼，并執行該啟動程序碼以控制該電源管理芯片產生多個不同的供應電壓值至該系統芯片，以供該對該系統芯片進行自適性電壓定比測量，以決定出該系統芯片分別在所述多個操作頻率下的多個目標供應電壓值，并據以建立出該自適性電壓定比查找表。

3.一種電子裝置，包含有：

一系統芯片；以及

一存儲元件，包含有一啟動程序碼；

其中當該系統芯片致能時，該系統芯片自該存儲元件讀取該啟動程序碼，并執行該啟動程序碼以對該系統芯片進行自適性電壓定比測量，以決定出該系統芯片分別在多個操作頻率下的多個目標供應電壓值，并據以建立出一自適性電壓定比查找表；以及該系統芯片將該自適性電壓定比查找表存儲在該系統芯片中的一存儲器或是該存儲元件中。

4.如權利要求3所述的電子裝置，還包含有：

一電源管理芯片；

其中當該系統芯片致能時，該系統芯片以自該存儲元件讀取該啟動程序碼，并執行該啟動程序碼以控制該電源管理芯片產生多個不同的供應電壓值至該系統芯片，以供該對該系統芯片進行自適性電壓定比測量，以決定出該系統芯片分別在所述多個操作頻率下的多個目標供應電壓值，并據以建立出該自適性電壓定比查找表。

5.如權利要求3或4所述的電子裝置，其中在該電子裝置的一測試階段，該系統芯片第一次致能以自該存儲元件讀取該啟動程序碼時，執行該啟動程序碼以對該系統芯片進行自適性電壓定比測量，以建立出該自適性電壓定比查找表。

6.如權利要求5所述的電子裝置，其中該系統芯片周期性地或是根據一排程來進行自適性電壓定比測量，以更新該自適性電壓定比查找表。

7.如權利要求3所述的電子裝置，其中該系統芯片包含一中央處理器以及一圖形處理器；以及該中央處理器進行自適性電壓定比測量，以決定出該中央處理器分別在多個第一操作頻率下的多個第一目標供應電壓值；對該圖形處理器進行自適性電壓定比測量，以決定出該圖形處理器分別在多個第二操作頻率下的多個第二目標供應電壓值，以供建立出該自適性電壓定比查找表。

8.如權利要求3所述的電子裝置，其中該系統芯片包含至少一個感測器，且在系統芯片在所述多個操作頻率中的任一個操作頻率下，該系統芯片對所述至少一個感測器施加所述多個供應電壓以分別產生多筆測試數據，且該系統芯片根據所述多筆測試數據來決定出該操作頻率所對應的目標供應電壓值。

9.如權利要求8所述的電子裝置，其中所述至少一個感測器包含多個感測器，所述多個感測器是分別位于系統芯片的多個核心電路中。

10.如權利要求8所述的電子裝置，其中每一個感測器包含一可程序化延遲電路，且所述至少一個感測器將具有該操作頻率的時鐘信號及測試數據輸入至該可程序化延遲電路，并對該可程序化延遲電路施加所述多個供應電壓，以使得該可程序化延遲電路輸出分別對應到所述多個供應電壓的所述多筆測試數據。