[發明專利]隨機數缺陷檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 202010323924.0
• 申請日: 2020-04-22
• 公開（公告）號: CN111541537B
• 公開（公告）日: 2022-11-08
• 發明（設計）人: 秦明闖;鄭玉偉
• 申請（專利權）人: 北京字節跳動網絡技術有限公司
• 主分類號: H04L9/08
• 分類號: H04L9/08;H04L67/141;H04L9/40
• 代理公司: 北京中知法苑知識產權代理有限公司 11226
• 代理人: 李明;趙吉陽

1.一種隨機數缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

當需要檢測隨機數缺陷時，控制隨機數生成器生成多個隨機數，獲取所述多個隨機數；

確定待檢測的目標缺陷類型以及與所述目標缺陷類型對應的隨機數缺陷表現特征，包括：從預設的至少一種隨機數缺陷類型以及與每種隨機數缺陷類型對應的隨機數缺陷表現特征中，獲取指定的待檢測的目標缺陷類型以及與所述目標缺陷類型對應的隨機數缺陷表現特征；

其中，所述至少一種隨機數缺陷類型包括：隨機數種子缺陷類型、隨機數生成缺陷類型、隨機數質量缺陷類型中至少一種；

其中，所述隨機數種子缺陷類型用于指示用于生成隨機數的種子存在隨機性差的缺陷；

所述隨機數生成缺陷類型用于指示生成的隨機數存在可預測性的缺陷；

所述隨機數質量缺陷類型用于指示生成的隨機數存在隨機性差的缺陷；

基于所述目標缺陷類型分析所述多個隨機數得到所述多個隨機數的數據特征，包括：在所述目標缺陷類型為所述隨機數種子缺陷類型時，分析所述多個隨機數的數據重復性特征；或者，在所述目標缺陷類型為所述隨機數生成缺陷類型時，分析所述多個隨機數的可預測性特征；或者，在所述目標缺陷類型為所述隨機數質量缺陷類型時，分析所述多個隨機數的隨機性特征；

當所述多個隨機數的數據特征與所述目標缺陷類型對應的隨機數表現特征相匹配時，確定當前環境存在所述目標缺陷類型的隨機數缺陷。

2.根據權利要求1所述的隨機數缺陷檢測方法，其特征在于，在所述目標缺陷類型包括所述隨機數種子缺陷類型時，所述控制隨機數生成器生成多個隨機數，獲取所述多個隨機數，包括：

控制所述隨機數生成器執行重啟或開機操作，并獲取生成的多個隨機數，作為多個第一目標隨機數；

所述基于所述目標缺陷類型分析所述多個隨機數得到所述多個隨機數的數據特征，包括：

確定所述多個第一目標隨機數的總數量，和所述多個第一目標隨機數中相同的第一目標隨機數的最大數量；

基于所述最大數量與所述總數量的比值，確定所述多個隨機數的數據重復性特征，并將所述數據重復性特征作為所述多個隨機數的數據特征。

3.根據權利要求2所述的隨機數缺陷檢測方法，其特征在于，所述隨機數種子缺陷類型包括固定隨機數種子缺陷類型和弱隨機數種子缺陷類型；

所述當所述多個隨機數的數據特征與所述目標缺陷類型對應的隨機數表現特征相匹配時，確定當前環境存在所述目標缺陷類型的隨機數缺陷，包括：

若所述數據重復性特征對應的所述比值小于1，則確定所述多個隨機數的數據特征與所述弱隨機數種子缺陷類型對應的隨機數表現特征相匹配，所述當前環境存在所述弱隨機數種子缺陷類型的隨機數缺陷；

若所述數據重復性特征對應的所述比值等于1，則確定所述多個隨機數的數據特征與所述固定隨機數種子缺陷類型對應的隨機數表現特征相匹配，所述當前環境存在所述固定隨機數種子缺陷類型的隨機數缺陷。

4.根據權利要求1所述的隨機數缺陷檢測方法，其特征在于，在所述目標缺陷類型包括所述隨機數生成缺陷類型時，所述控制隨機數生成器生成多個隨機數，獲取所述多個隨機數，包括：

控制所述隨機數生成器與其他設備進行通信連接，并獲取所述隨機數生成器與其它設備執行握手操作時生成的多個隨機數，作為多個第二目標隨機數；

所述基于所述目標缺陷類型分析所述多個隨機數得到所述多個隨機數的數據特征，包括：

基于所述多個第二目標隨機數，預測所述隨機數生成器在與其他設備進行通信連接，執行握手操作時生成的多個隨機數；

獲取所述隨機數生成器實際生成的多個隨機數；

基于預測得到的所述多個隨機數是否與實際生成的所述多個隨機數相同，確定所述多個隨機數的可預測性特征，并將所述可預測性特征作為所述多個隨機數的數據特征；

所述當所述多個隨機數的數據特征與所述目標缺陷類型對應的隨機數表現特征相匹配時，確定當前環境存在所述目標缺陷類型的隨機數缺陷，包括：

若所述可預測性特征指示預測得到的所述多個隨機數和實際生成的所述多個隨機數相同，則確定所述多個隨機數的數據特征與所述隨機數生成缺陷類型對應的隨機數表現特征相匹配，所述當前環境存在所述隨機數生成缺陷類型的隨機數缺陷。